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聯華電子與SuVolta 宣布聯合開發28納米低功耗工藝技術

—— 聯華電子的28納米High-K/Metal Gate工藝運用SuVolta的 DDC技術指向移動應用
作者: 時間:2013-07-24 來源:電子產品世界 收藏

  電子公司(NYSE: UMC; TWSE: 2303) ("UMC") 與SuVolta公司,日前宣布聯合開發工藝。該項工藝將SuVolta的Deeply Depleted Channel™ ()技術集成到電子的High-K/Metal Gate(HKMG)高效能移動(HPM)工藝。SuVolta與電子正密切合作利用技術的優勢來降低泄漏功耗,并提高SRAM的低電壓效能。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/147840.htm

  這兩家公司還宣布該工藝技術將提供高度靈活的采用方式:

  · “ PowerShrink™低功耗平臺”選項:所有都使用DDC技術以實現最佳功耗與效能優勢;

  · “DDC DesignBoost晶體管調換”選項:用DDC晶體管取代現有設計中部分晶體管。該選項的典型應用是用DDC晶體管取代泄漏功耗大的晶體管來降低泄漏,或者取代SRAM位單元晶體管從而提高效能并降低最低工作電壓(Vmin)

  聯華電子先進技術開發部副總裁游萃蓉表示:“在接下來的幾周或者幾個月,我們期待看到聯華電子與SuVolta聯合開發的技術有良好的結果,從而進一步驗證DDC技術為我們的 HKMG工藝帶來的功耗與效能優勢。通過將SuVolta的先進技術引進到我們的HKMG工藝上,聯華電子將提供28納米移動計算工藝平臺,以完善我們現有的Poly-SiON及HKMG技術。”

  SuVolta總裁兼首席執行官Bruce McWilliams博士表示:“聯華電子與SuVolta團隊繼續將DDC技術集成到聯華電子的28納米工藝,取得優秀的進展。通過合作,我們開發的工藝使得聯華電子客戶的設計易于移植。此外,SuVolta為業界提供選擇,以替代昂貴而復雜的工藝技術,從而推動未來移動器件的發展。”

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