- 2023年10月12日——上海合見工業軟件集團有限公司（簡稱“合見工軟”）宣布推出擁有自主知識產權的商用級、高效測試向量自動生成工具UniVista Tespert ATPG，幫助工程師在進行大規模SoC集成電路設計中實現可測性設計（DFT），以降低測試成本，提升芯片質量和良率，縮短芯片設計周期，助力集成電路測試快速簽核，應對復雜集成電路架構帶來的挑戰。UniVista Tespert ATPG 創新自研多線程并行引擎，相比傳統單線程引擎，可以利用48線程實現高達29倍的提速，同時配合高效的測試向量生成算
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合見工軟 測試向量自動生成工具 DFT
- 英諾達（成都）電子科技有限公司發布了自主研發的靜態驗證EDA工具EnAltius?昂屹? DFT Checker，該工具可以在設計的早期階段發現與DFT相關的問題或設計缺陷。隨著芯片規模和復雜度的提升，芯片各種邏輯和電氣功能驗證的要求越來越高，多種RTL編碼風格、以及存在于電路設計中的結構性和功能性問題更容易成為設計上的缺陷，導致設計不斷修改，甚至造成流片失敗的風險。此外，設計重用性和IP的高集成度對模塊設計在正確性和一致性方面提出了更嚴格的要求，以提高IP集成的可靠性和成功率。上述芯片設計的挑戰可以通過
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英諾達 DFT 靜態驗證工具 IC設計
- 大家好，又到了每日學習的時間了，今天咱們來聊一聊數字信號處理中DFT、DTFT和DFS的關系，咱們通過幾幅圖來對比，探討一下哦?！ 『芏嗤瑢W學習了數字信號處理之后，被里面的幾個名詞搞的暈頭轉向，比如DFT，DTFT，DFS，FFT，FT,FS等，FT和FS屬于信號與系統課程的內容，是對連續時間信號的處理，這里就不過多討論，只解釋一下前四者的關系?！ ∈紫日f明一下，我不是數字信號處理專家，因此這里只站在學習者的角度以最淺顯易懂的性質來解釋問題，而不涉及到任何公式運算。 學過卷積，我們都知道有時域卷積定
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DFT DTFT DFS
- 可測試性設計 (DFT) 在市場上所有的電子設計自動化 (EDA) 工具中是最不被重視的，縱然在設計階段提高芯片的可測試性將會大幅縮減高昂的測試成本，也是
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DFT 硬件加速 仿真芯片設計
- 假設設計的某個時鐘驅動了大量觸發器，以至它們的峰值開關動作超過設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變任何時鐘，相反我們將設計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發器的模塊)的觸發器開關速率不超過總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進了設計。
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ATPG 數字電路設計 SoC DFT
- 完全的數字電路測試方法通常能將動態功耗提高到遠超出其規范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產線上出現不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態功耗與測試之間的關系，以說明為何功率管理現在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
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ATPG DFT 數字電路測試
- 一、背景傳統的全芯片ATPG正日漸衰退，對于許多現有的和未來的集成芯片器件來說，一項主要挑戰就是如何為龐...
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分層 DFT 即插即用 時鐘切換
- 當今IC設計越來越復雜，已經向10億門進發，同時需要更快的上市時間，20nm、3DIC也成為研發熱門。如何提高設計效率?Mentor Graphics公司董事長兼CEO Walden Rhines稱硬件仿真(emulation)是仿真的潮流。
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Mentor IC DFT
- ASIC設計的平均門數不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
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DFT 測試方法 比較
- DFT的計算量,離散傅里葉變換在實際應用中是非常重要的，利用它可以計算信號的頻譜、功率譜和線性卷積等。但是，如果使用定義式(3.20)來直接計算DFT，當N很大時，即使使用高速計算機，所花的時間也太多。因此，如何提高計算DFT的速
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計算 DFT
- ASIC設計的平均門數不斷增加，這迫使設計團隊將20%到50%的開發工作花費在與測試相關的問題上，以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規則被認為是好做法，但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
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DFT 架構 測試方法 比較
- 美國加州圣荷塞 2009年4月14日– 芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司（納斯達克代碼：LAVA）日前宣布，該公司面向先進集成電路的全芯片綜合產品Talus® Design的最新版本正式面市。新版Talus® Design包括了一個增強的時序優化引擎、改善的內存使用效率以及先進的生產率改進，比如：創新性可用性、更為靈活的先進腳本語言以及領先的第三方可測性設計（DFT）產品支持。同時，Talus Design與Talus Vortex相結
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Magma RTL DFT Talus
- 美國加州圣荷塞，芯片設計解決方案供應商微捷碼（Magma®）設計自動化有限公司日前宣布，公司已向領先的半導體內置自測（BIST）和診斷解決方案提供商LogicVision公司提供了自動測試向量生成（ATPG）技術的授權。通過這項協議，LogicVision公司將能夠更快拓展產品組合，為客戶提供更全面的可測性設計（DFT）功能以改善測試質量、縮短納米IC設計周期并降低納米IC成本。此外，兩家公司還簽署了一份單獨協議
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微捷碼 BIST ATPG DFT IC
dft介紹
DFT
隨著電子電路集成度的提高，電路愈加復雜，要完成一個電路的測試所需要的人力和時間也變得非常巨大。為了節省測試時間，除了采用先進的測試方法外，另外一個方法就是提高設計本身的可測試性。其中，可測試性包括兩個方面：一個是可控制性，即為了能夠檢測出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加測試向量；另外一個是可觀測性，指的是對電路系統的測試結果是否容易被觀測到?！ ≡诩? [
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