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羅德與施瓦茨公司攜全方位測試技術亮相2016上海國際電磁兼容暨微波展

作者: 時間:2016-12-19 來源:電子產品世界 收藏

  2016年10月19-21日,2016國際暨微波展覽會在上海舉辦,公司攜全方位的測試技術亮相此次展會。此次展會還同期舉辦了重量級的嘉賓論壇,匯集了上百家來自中國、美國、德國、瑞士、日本、法國、加拿大、韓國、新加坡、意大利等國家的技術領先企業,是技術及安規認證領域和射頻微波行業的國際盛會,也是引領創新前沿的多元化品牌盛會。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/201612/341778.htm

  公司是全球最大的電磁兼容測試設備與系統的供應商,也是歐洲最大的電子儀器的供應商,憑借八十多年的射頻微波行業與四十多年電磁兼容行業的技術創新和經驗積累,以全方位的解決方案參加此次展會,向來自全國各地的用戶與專家全面展示了其領先的電磁兼容測試產品、系統和技術,以及“創新引領發展”的品牌形象。

  R&S公司展出了8個主題方案與測試儀器:

  1. 最新EMI認證測試接收機:ESW

  2. 最新預認證EMI測試系統: ESRP

  3. 電路板級EMI診斷技術:RTO和RTM

  4. 電磁環境測試系統:TS-EMF

  5. 最新元器件測試解決方案: ZVA

  6、超寬帶信號合成技術: SMW200A

  7、無線終端綜合測試儀:CMW500

  8、高功率射頻信號放大器: BBA150

  到場參觀的來賓對展出的ESW、SMW、CMW、FSW、FSWP 等“w”系列高端測試儀器非常感興趣, 積極地與羅德與施瓦茨的技術專家交流,了解詳細的技術指標和應用,關注度熱烈而火爆,成為此次展會的亮點與熱點。

 

 

  在展會期間,羅德與施瓦茨公司還參加了電磁兼容論壇并做了兩場專題講座, “最新的EMI測試接收機技術”詳細介紹了羅德與施瓦茨ESW認證級實時接收機技術在全球EMI認證測試中的應用以及影響改變,“最新的元器件測量技術”全面介紹了羅德與施瓦茨在射頻微波元器件以及IC領域的獨具特色的解決方案,到場來賓和羅德與施瓦茨專家進行了深入的交流,探討了這些技術在實際產品設計層面的應用問題。

    



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