對于導電損耗而言，此等式可以改寫為如下等式：

　　由此可見，導電損耗取決于負載電流、V_CE(sat)及占空比。飽和電壓V_CE(sat)的值并不恒定，而是隨著時間變化。導電損耗還取決于負載電流及IGBT的T_J值。此電磁爐應用中，控制電路以與烹調功率需求成直接比例的方式改變占空比。相應地，烹調功率等級最高時導電損耗就處在最大值，因為等式2中的所有參數在此功率等級時都呈現出其最大值。

　　圖2顯示了T_J = 67 °C條件下V_CE(sat)及ICE在在選定開關周期內的變化。圖2中的數據是從在市場上購得的電磁爐獲得的，它使用一個鉗位電路來測量導電損耗V_CE(sat)。當IGBT關閉時，此電路在10 V時鉗位V_CE，使示波器能夠使用每小格低電壓值(volt/div)的設置，這樣才能精確地測量V_CE。

　　關閉損耗

　　從圖3中可以清晰地看到電磁爐的關閉損耗波形。影響這些損耗的因素包括IGBT殘余電流、V_CE歪曲率及開關頻率。殘余電流來自于IGBT關閉后漂移區留下的少量載流子。影響這些少量電荷載流子結合率的因素包括摻雜深度、緩沖層厚度及使用的摻雜技術。開關頻率由所要求的炊具功率等級及應用的開關控制算法決定。重要的是在設計及開發過程的每一個階段確認目標應用中的IGBT性能。性能的確認可以通過測量應用中IGBT損耗來實現。

　　電磁爐已經被證明擁有比傳統電熱鍋高出約25%的能效。在軟開關電磁爐應用中，當尋求為系統指定IGBT時，導電損耗及關閉損耗是要考慮的最重要損耗，它們在總體損耗中占主要比例。精確地測量這些損耗，能夠幫助在系統開發過程期間提供必要的數據來評估IGBT性能，因而確保將能效等級提升至最高。