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半導體芯片在進行高低溫測試時的注意事項

發布人:廣東宏展儀器 時間:2023-07-08 來源:工程師 發布文章

半導體芯片高低溫測試是金屬、元器件、電子汽車配件、化學材料等材料行業經常能用到的測試,用于測試材料結構或復合材料。在經過高溫及較低溫的連續變化環境試驗我們可以檢測出半導體芯片忍受極端溫度變化的程度,得以在短時間內檢測到試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理損傷。

做半導體芯片高低溫測試時需要用環境模擬實驗箱,在使用時,試驗箱內會有各種ji端的環境,例如較低溫、高溫高壓、高溫高濕等特殊環境條件。

如果試驗箱中正在進行-70℃的較低溫測試,這個時候打開試驗箱門,寒冷的氣流會溢出試驗箱,假如我們的手指不做任何防護措施就觸碰到試驗箱壁或樣品上,手指會瞬間凍傷,凍傷部位的肌肉組織甚至會壞死。另外,在較低溫的情況下打開試驗箱門可能會產生蒸發器結霜的現象,會影響試驗箱降溫速度,甚至有可能會導致壓縮機損壞等問題。

如果在試驗箱中正在進行高溫150℃的測試時打開試驗箱門,高溫氣體會瞬間沖出試驗箱,打開時沒有做好相關防護的話,很有可能會燙傷我們的面部。更嚴重的情況時,如果,試驗箱旁有燃點低的可燃物,高溫氣體可能會引起起火。

其他環境試驗設備,比如恒溫恒濕試驗箱在進行高溫高濕試驗時,儀器內的壓力和蒸汽會非常大,如果有人在此時打開試驗箱門,會有高溫高濕的蒸汽沖出試驗箱,這很可能會對操作人員造成嚴重的燙傷。

   設備操作不當的后果對操作人員的身體健康影響較大,所以我們要加強保護意識,學習如何正確操作機器,在半導體芯片高低溫測試運行途中,若沒有特殊情況需要打開試驗箱門,請勿打開試驗箱門。如果須要使用中途打開試驗箱門,那么一定要做好相關的防護措施,在做好保護措施的情況下用正確的方法打開試驗箱門。

      

        宏展儀器(Lab Companion)現有東莞、昆山、重慶三大研發制造工廠,專精于環境模擬技術,產品包括: 高低溫交變濕熱試驗箱、快速溫度循環試驗箱、溫度沖擊試驗箱、步入式環境試驗箱、高低溫低氣壓試驗箱、精密烘箱、非標環境試驗設備定制產品等。


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