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驅動中國“智”造,美國國家儀器以集成式軟硬件平臺應對工業物聯網挑戰

  •   2015年9月15日,美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)在上海嘉里大酒店舉辦了驅動中國“智”造——走進工業物聯網與大數據媒體見面會暨《工業大數據》新書發布會。此次會議旨在讓用戶了解工業物聯網與大數據應用的最新發展趨勢,分享NI模塊化、集成式嵌入式軟硬件平臺的獨特優勢,同時見證《工業大數據》新書發布。   現今工業4.0、智能硬件、物聯網已經成為全球熱門話題,并且伴隨著《中國制造2025》規劃的提出,傳統制造業正
  • 關鍵字: NI  物聯網  

第三屆全國虛擬儀器大賽決勝哈工大

  •   由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器類專業教學指導委員會主辦,哈爾濱工業大學承辦,美國國家儀器公司(National Instruments,簡稱NI)協辦的2015(第三屆)全國虛擬儀器大賽14日在哈爾濱工業大學舉行頒獎儀式,80支入圍參賽隊最終分享了各個獎項,清華大學代表隊以自平衡自行車設計奪走唯一的特等獎,并已經入圍NI全球學生設計競賽前三名。  2015(第三屆)全國虛擬儀器大賽大賽分為軟件組、綜合組—基于PC的虛擬儀器平臺、綜合組—嵌入式虛擬儀器平臺和綜合組—模塊化PXI平臺四大組別,共收
  • 關鍵字: NI  第三屆全國虛擬儀器大賽  Ray Hsu  201509  

NIWeek 2015,以大數據開啟物聯網之門

  •   美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2015年8月4日-6日在美國得克薩斯州首府奧斯汀舉辦了一年一度的NIWeek全球盛會。3200多名業界代表參加了此次盛會,見證了NI通過平臺化架構幫助客戶將Big Analog Data進一步分析、控制,打造智能化系統,實現物聯網實施落地的最新理念。        NI始終致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰。NIWeek自舉辦20多年來,已經成為圖形化系統設計領域的全球盛會,也成為
  • 關鍵字: NI  物聯網  

NI針對工業物聯網(IIoT)推出新一代控制系統

  •   美國國家儀器公司(National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,今日宣布推出了基于開放、靈活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架構的全新嵌入式系統硬件。該硬件包含了以下三個控制器:高性能CompactRIO控制器,適用于需要系統堅固可靠、環境嚴苛的工業應用領域的工程師和系統集成商;FlexRIO控制器,適用于高性能嵌入式應用設計工程師;以及Single-Board RIO控制器,適用于需要提高嵌入式應用靈活
  • 關鍵字: NI  物聯網  

使用LabVIEW 2015更快速編寫代碼

  •   美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來來幫助他們應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今天發布了LabVIEW 2015系統級設計軟件。 LabVIEW最新版提供了快速便捷開發方式和調試工具,將繼續通過系統間的代碼復用來標準化用戶與幾乎所有硬件的交互方式,從而幫助他們節省時間和成本,以適應技術的進步、需求的變化和日益增加的上市時間壓力。   “LabVIEW和LabVIEW RIO架構幫助我們僅用了一周的時間就完成了
  • 關鍵字: NI  LabVIEW  

NI推出全新CompactDAQ硬件和DIAdem 2015軟件,幫助工程師解決大數據挑戰

  •   美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布推出了以下全新的硬件和軟件來幫助工程師開發更智能的測量和數據管理解決方案:具有四核處理功能的全新4槽和8槽CompactDAQ控制器、全新的14槽USB 3.0 CompactDAQ機箱、DIAdem 2015和DataFinder 2015服務器版。   隨著工程數據呈指數級增長,基于軟件的智能化測量系統可幫助用戶在采集過程中添加智能和處理功能
  • 關鍵字: NI  CompactDAQ  

NI通過全新無線測試系統降低無線生產測試成本

  •   美國國家儀器(National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布推出無線測試系統(WTS),一款可大幅降低批量無線生產測試成本的解決方案。盡管面臨日益增加的無線測試復雜性,企業仍可以借助經過測量速度優化和具有并行測試功能的系統來自信地降低測試成本,數倍提高生產車間的生產能力。   “物聯網(IoT)等大趨勢將驅動更多的設備融合射頻和傳感器功能,過去此類設備的測試成本極其昂貴。 但是測試成本不應成為工程師
  • 關鍵字: NI  WTS  

NI助力中國工程人才教育,2015第三屆全國虛擬儀器大賽圓滿落幕

  • 新聞發布—第三屆全國虛擬儀器大賽于2015年7月13日-14日在哈爾濱工業大學舉行了最終決賽并落下帷幕。來自全國各大高校的80支學生代表隊參與了最終決賽,經過現場的激烈角逐和評委們的嚴格審查,清華大學的“自平衡自行車”摘得桂冠,獲得了本次大賽唯一的特等獎。[圖] 第三屆全國虛擬儀器大賽在哈爾濱工業大學圓滿落幕2015第三屆全國虛擬儀器大賽由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器類專業教學指導委員會主辦,哈爾濱工業大學承辦,美國國家儀器(NI)有限公司協辦。全國虛擬儀器大賽自2011年啟動以來,受到了國家相關
  • 關鍵字: NI  

Altera在最新的MAX 10 FPGA套件中展示單芯片可配置處理器的能力

  •   Altera公司今天宣布提供第二代Nios® II嵌入式評估套件(NEEK),它安裝了Altera的非易失MAX® 10 FPGA以及Nios II軟核嵌入式處理器。MAX 10 NEEK是功能豐富的平臺,為嵌入式設計人員體驗非易失FPGA的定制嵌入式處理器功能提供了簡單便捷的方法。MAX 10 NEEK是由Altera及其電路板合作伙伴Terasic聯合開發的。   MAX 10 NEEK結合了基于MAX 10 FPGA的電路板以及一個7英寸5點多點觸摸顯示屏。嵌入式開發人員可
  • 關鍵字: Altera  MAX 10  

NI引領動手工程教育,喚醒下一代卓越工程師

  •     美國國家儀器有限公司(National Instruments, 簡稱NI)于7月13日在冰城哈爾濱成功舉辦了第十一屆NI全國高校教師交流會(Professor Day 2015)。今年教師交流會的主題圍繞“Do Engineering—喚醒下一代卓越工程師”這一理念展開, 共吸引了來自全國25個省/直轄市、197所高校和25所高職院校的200多名教師參加。  中國正面臨著制造業改革創新的趨勢,在國務院發布的《中國制造
  • 關鍵字: NI  Do Engineering  Professor Day  

NI助力中國工程人才教育,2015第三屆全國虛擬儀器大賽圓滿落幕

  •   第三屆全國虛擬儀器大賽于2015年7月13日-14日在哈爾濱工業大學舉行了最終決賽并落下帷幕。來自全國各大高校的80支學生代表隊參與了最終決賽,經過現場的激烈角逐和評委們的嚴格審查,清華大學的“自平衡自行車”摘得桂冠,獲得了本次大賽唯一的特等獎。        [圖] 第三屆全國虛擬儀器大賽在哈爾濱工業大學圓滿落幕   2015第三屆全國虛擬儀器大賽由中國儀器儀表學會、教育部高等學校儀器類專業教學指導委員會主辦,哈爾濱工業大學承辦,美國國家儀器(NI)有限
  • 關鍵字: NI  虛擬儀器  

NI引領喚醒下一代卓越工程師計劃

  •  7月13日,第十一屆NI全國高校教師交流會在哈爾濱工業大學舉辦,會議以喚醒下一代卓越工程師為主題,借此盛會邀請國內一流高校教師代表分享課程教學改革和科研項目實施經驗,為廣大教師提供信息交流平臺,共同提高相關專業教學的整體質量和科研水平,希望用NI的先進產品與技術,配合多年全球高校教學的經驗,與中國高校教師一道探討培養下一代卓越工程師的方式方法。 研討會以NI全球院校項目部門經理Ray Hsu(徐安瑞)的主題演講拉開序幕,大到空客的未來工廠,小到手腕上的手表的變遷,Ray&n
  • 關鍵字: NI  高校  教師交流會  虛擬儀器  

PXI加入戰局,ATE全面模塊化時代到來

  • 半導體測試ATE是整個測試系統中最為精密的一個環節,也是最具市場價值的測試應用領域之一,相比于幾萬塊錢規模的自動化測試系統,動輒百萬的半導體測試ATE從技術上就限制了很多玩家的進入。當然,龐大的系統有自己固有的問題,就是設備的使用成本過于昂貴,基于這樣的需求,NI的PXI技術尋找了市場的切入點技術找到了市場的切入點。 在快速變遷的市場環境下,設備性能不斷挑戰著ATE系統功能的極限,測試設備的淘汰速度加快,測試成本也隨之增加,因而需要與日益嚴苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半導體測試客戶的最大亮
  • 關鍵字: PXI  ATE  NI  模塊化  半導體測試  

至強與Gen3入局,PXI上限幾何?

  • 近日,在北京舉辦的第十二屆PXI應用和技術論壇(PXI -TAC 2015)上,NI公司全面介紹了其在PXI方面的最新產品和技術的發展情況。PXI經過18年的發展,已經成為模塊化測試技術的領導者,并且在自動化測試領域成為市場的主導。除了傳統自動化測試的優勢之外,憑借PXI獨特的技術特性,NI未來將重點在國防和航空航天、無線測試、汽車電子和半導體測試等領域繼續推廣PXI技術和產品的應用。 在這些產品和技術的革新中, PCI-Express Gen3的加入帶來整個PXI性能再次提升的可能。基于PCIe Ge
  • 關鍵字: 至強  PXI  NI  測試測量  

NI第十五屆圖形化系統設計征文競賽全面啟動 

  •   美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI) “第十五屆圖形化系統設計征文競賽”已于近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產品的用戶,旨在進一步推動圖形化系統設計在國內的發展和應用,使更多的工程師們能更快更好地開發符合特定要求的測控應用。   從2000年開始,該活動已經成功舉辦了十四屆,得到廣大NI新老用戶的熱情支持,每年都收集到數量眾多的優秀創新應用方案,使得大賽獲獎應用方案文集備受青睞。活動一旦正式報名參與,即有獎勵。入圍決賽者更將有機會獲
  • 關鍵字: NI  NIDays  
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