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NI:軟件平臺才是真正顛覆的力量

  •   在NIWeek 2016期間,《電子工程專輯》有幸專訪到Eric Starkloff,請他與我們分享分享軟體平臺如何改寫測試與量測以及工業控制等領域的游戲規則、促進物聯網的進展以及克服接踵而來的RF等挑戰...   隨著物聯網(IoT)擴展至更多的關鍵應用,基于軟體的開放平臺正成為監測與控制關鍵基礎架構的核心,并進一步改變傳統的封閉式硬體架構,朝向開放的用戶定義系統進展。   如今,“真正的力量就在于軟體!”國家儀器(National Instruments;NI)全球銷售
  • 關鍵字: NI  5G  

NI將半導體ATE數字功能引入PXI平臺

  • NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學家應對全球最嚴峻的工程挑戰的平臺系統供應商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數字通道板卡和NI數字圖形向量編輯器。
  • 關鍵字: NI  ATE  PXI平臺  

美國國家儀器亮相2016汽車測試及質量監控博覽會

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,近日聯合多家業內資深的合作伙伴共同亮相2016汽車測試及質量監控博覽會,集中展示了其在智能網聯汽車以及通用汽車測試領域的測試平臺及解決方案,為中國汽車生產制造走向智能化可持續發展之路提供靈活、可靠、開放的技術保障。   根據國務院發展研究中心發布的《2016中國汽車產業發展報告》指出,中國汽車產業正經歷創新式突破,智能化對中國汽車產業鏈已經形成全
  • 關鍵字: NI  車聯網  

NI宣布公司下一階段發展的CEO接班計劃

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,今日宣布董事會已推選Alex Davern(49 歲)接替73歲高齡的James Truchard博士擔任首席執行官兼董事長,此決議自2017年1月1日生效。James Truchard博士自1976年NI成立之際便一直擔任NI首席執行官,未來也將繼續擔任董事會主席。 董事會計劃在2017年1月之前任命Davern為董事會成員。本次任命為“董
  • 關鍵字: NI  

NI STS增強了RF測量功能,進一步降低半導體測試成本

  •   作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)今日宣布為半導體測試系統(STS)增加了全新的RF功能,使其可提供更高的收發功率、以及基于FPGA的實時包絡跟蹤(Envelop Tracking)和數字預失真處理(Digital Pre-Distortion)。   STS的其中一個最新改進功能是高功率RF端口,可幫助RF前端模塊制造商滿足RFIC及其他智能設備不斷增加的測試需求,同時降低測試成本。
  • 關鍵字: NI  STS  

新版LabVIEW Communications推動5G的快速原型化

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布推出LabVIEW Communications系統設計套件2.0這一個專門用于無線通信系統原型開發的設計環境。 新版本增加了NI Linux Real-Time功能,適用于所有軟件定義無線電(SDR)產品,包括NI USRP RIO和FlexRIO。新增的功能可幫助工程師開發在NI Linux Real-Time 操作系統上運行實時算法,并與
  • 關鍵字: NI  LabVIEW   

美國國家儀器與亞龍教育簽署戰略合作協議

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI)作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰的供應商,近日宣布與中國教育技術裝備的龍頭企業——浙江亞龍教育建立戰略合作伙伴關系,共同打造亞龍-NI工程創新中心,旨在應對緊缺的國家技能型人才培養的需求。雙方在戰略合作的基礎上,將共同開發一系列符合現代職業技術教育理念的實訓裝備,為實現“更好的為職業院校提供優質服務”這一共同目標打下堅實基礎。   去年以來
  • 關鍵字: NI  中國制造2025  

NI將半導體ATE數字功能引入PXI平臺

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學家應對全球最嚴峻的工程挑戰的平臺系統供應商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數字通道板卡和NI數字圖形向量編輯器。 該產品將射頻集成電路、電源管理IC、微機電(MEMS)系統設備以及混合信號IC的制造商從傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉式架構中解放出來。   傳統ATE的測試覆蓋率通常無法滿足最新半導體設備的要求。通過將半導體行業成熟的數字測試模式引入到基于PXI開放平
  • 關鍵字: NI  PXI  

NI通過全新的機電一體化教學和設計模塊增強NI ELVIS教學平臺

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布功能強大的NI ELVIS產品家族又添加了一名新成員——NI教學實驗室虛擬儀器套件(NI ELVIS) RIO控制模塊。 NI ELVIS RIO控制模塊采用了業界領先的實時嵌入式處理器和FPGA架構,使得NI ELVIS成為電力系統、機器控制、硬件在環和機電一體化設計等學科的最全面動手學習解決方案。   借助
  • 關鍵字: NI  ELVIS  

NI推出全球首個大規模MIMO應用程序框架,加速5G原型驗證創新

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布推出全球首個MIMO應用程序框架。 結合NI軟件無線電硬件,該軟件參考設計提供了一種使用LabVIEW源代碼編寫的可重配置參數化物理層,且提供詳細的文檔說明,可幫助研究人員構建傳統的MIMO以及大規模MIMO原型。   此MIMO應用程序框架可幫助無線設計人員開發算法和評估自定義IP,以解決實際應用中與多用戶MIMO部署相關的諸多挑
  • 關鍵字: NI  MIMO  

測試市場總體規模在下降 NI卻保持兩位數增長

  •   目前黯淡的全球經濟環境也正在沖擊測試測量行業的發展速度。在這幾天舉辦的NIWeek 2016上,不管是NI創始人兼CEO Dr. James Truchard,還是NI負責全球銷售和市場營銷的執行副總裁Eric Starkloff,都異口同聲地說,目前全球總體測試測量市場規模在下降,但我們還能保持兩位數增長,在自動化、圖形化、分布式測試市場增速更快。        圖1:NI創始人兼CEO Dr. James Truchard與筆者在NIWeek   Eric Starkloff
  • 關鍵字: NI  測試  

LabVIEW 2016新增通道連線功能為工程師簡化開發,提高效率

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的平臺系統供應商,今日宣布推出LabVIEW 2016系統設計軟件,可幫助工程師簡化開發,并將NI生態系統的軟件高效地集成到其自身系統中。 最新版的LabVIEW新增了通道連線功能,可簡化并行代碼之間的復雜通信,并且可以用到桌面和實時系統,有助于提高代碼可讀性以及減少開發時間。   “LabVIEW 2016的新通道連線功能使得架構能夠跨域轉移,幫
  • 關鍵字: NI  LabVIEW  

NI推出交鑰匙HIL仿真儀,提升了硬件在環測試系統的可自定義性

  •   NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,今日宣布推出基于開放式模塊化架構的交鑰匙HIL仿真儀,旨在幫助汽車和航空航天行業的嵌入式軟件測試人員維護軟件質量,同時應對日益緊迫的時間要求、不斷變化的測試需求以及人手縮減等各種挑戰。   由于NI系統均基于開放的現成軟硬件平臺,因而可輕松將相機處理和RF I/O等新技術以及傳統的HIL組件集成到單個系統中。 與現有方法不同的是,這種可變性使得工程師
  • 關鍵字: NI  LabVIEW  

NI發布業界最高精度的PXI源測量單元

  •   NI(美國國家儀器,National Instruments, 簡稱NI)作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,近日宣布推出NI PXIe-4135源測量單元(SMU),其測量靈敏度達10 fA,輸出電壓高達200V。工程師可以使用NI PXIe-4135 SMU來測量低電流信號,并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性來實現晶圓級參數測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等各種應用。   “我們的順序參數測試需要采
  • 關鍵字: NI  PXI  

NI發布業界最高精度的PXI源測量單元

  •   NI(美國國家儀器,National Instruments, 簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來應對全球最嚴峻的工程挑戰的供應商,近日宣布推出NI PXIe-4135源測量單元(SMU),其測量靈敏度達10 fA,輸出電壓高達200V。工程師可以使用NI PXIe-4135 SMU來測量低電流信號,并利用NI PXI SMU的高通道密度、高速的測試吞吐率和靈活性來實現晶圓級參數測試、材料研究以及分析低電流傳感器和集成電路的特性等各種應用。   “我們的順序參數測試需要
  • 關鍵字: NI  PXI  
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