- JTAG(JointTestActionGroup，聯合測試行動組)是一種國際標準測試協議(IEEE1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。JTAG的主要功能有兩種，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題，另一類用于Debug，對各類芯片以及其外圍設備進行調試。本文介紹基于JTAG的調試器及接口設計，供大家參考。
基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系統
本文選用大容
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CPLD IEEE1149.1 CPU
- 根據混合信號邊界掃描測試的工作機制，提出了符合1149．4標準的測試方法，并用本研究室開發的混合信號邊界掃描測 ...
- 關鍵字：
IEEE1149．4 測試方法
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發使此技術吸引著嵌入式和系統級測試以及系統內編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現。
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測試測量 IEEE1149.1
- 最近出現的系統級接口器件，為設計人員把用于制造測試的邊界掃描測試從板級擴展到系統級提供了靈活條件。
擴展到系統級的基礎結構是提供單點接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統內配置的最佳化，以及編程閃存時存儲器讀/寫周期的最佳化。
它也支持板到板內連測試(用于背投內連失效診斷)到端口連接器引腳級。另一個優點是在產品裝運前提供系統測試，這包括固件檢驗和簡化固件更新。
擴展邊界掃描到系統級提供執行嵌入式測試結構(即器件級BIST)的基礎結構，這可在EPGA、A
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嵌入式 IEEE1149.1
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