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用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)

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作者: 時間:2008-04-10 來源:電子產品世界 收藏
  對于I/O模塊、并行I/O模塊、內電路測試針或其他 I/O資源都采用相同的I/O測試圖形。當測試程序用于不同的時,借助測試儀配置和連線表尋址實際的測試儀I/O資源。

  圖3示出具有邊界描述控制器和附加測試儀I/O硬件的測試儀配置。控制器提供到的JTAG測試接入端口的存取和到測試儀I/O間傳輸是通過主總線接口而不是通過鏈。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/81439.htm

  到具有混合掃描資源的外設接口連接器的接入與采用邊界掃描I/O模塊(采用掃描鏈接入)所實現的測試覆蓋范圍具有同樣的改善。然而,由于產品的I/O圖形不能作為邊界掃描鏈的一部分,而是做為并行I/O圖形,所以,這些配置的測試程序可以端接。用其他 I/O資源,而測試程序不用作任何修改。由于I/O圖形與邊界掃描描述無關,所以,測試覆蓋范圍統計不會改變。

  表2給出采用融合UUT的邊界掃描I/O模塊與用混合掃描概念實現時,測試覆蓋范圍統計的差別。考慮UUT和測試儀資源分別保證精度和UUT定向測試覆蓋范圍統計。

  基于混合測試圖形的概念是把經過UUT邊界掃描鏈的串行接入和經過測試儀I/O資源并行接入結合起來。測試儀I/O資源應個別地可編程做為輸入,輸出或三態。



關鍵詞: ATE 邊界掃描 UUT

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