邊界掃描測試技術正在變熱。從1990年開始，它是針對解決基于物理接觸技術(如針床和浮動探針系統)的傳統板測試的有限接入問題。IEEE1149.1邊界掃描應用擴展已超出JTAG原來成員的想象。

　　現在有不少的相關IEEE標準，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個主要的起初標準IJTAG(現在是IEEEP1687和SJTAG)。

　　·IJTAG(I指內部)用測試接入端口(TAP)做為進入系統芯片(SoC)或類似器件內部測試和調試儀器的主要通路形式。

　　·SJTAG(S指系統)用系統中由邊界掃描使能板和某些背板總線形式(可用做測試總線)構成的邊界掃描架構。

　　現在邊界掃描應用正在向兩個完全不同的方向發展。邊界掃描能很好地解決某些邊界問題，但不能解決全部問題。

　　邊界掃描發展概況

　　圖1示出自IEEE1149.1第一版本發布以來邊界掃描技術蓬勃發展情況。邊界掃描不僅僅在單板級擴展(1149.1、1149.6和1532),而且已進入核基設計(1500、5001,現在的P1687/IJTAG)并進入多板系統設計。

　　邊界掃描能解決有關芯片、板和系統測試的所有問題嗎？在做答此問題之前，我們必須定義一些共同術語以防誤解。

　　器件定義為板上的實體。一旦器件組裝在板上，則可以結構或功能觀點測試板。結構測試可驗證制造的性能指標，如制造過程期間引起的失效檢測。