吉時利儀器公司(Keithley)，宣布為其4200-SCS半導體特性分析系統新增一套C-V測量功能—4200-CVU。4200-CVU能以測量模塊的形式插入4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級電容。在4200-CVU的創新設計中采用了先進的高性能電路，有8項專利正在申請中。該設備具有直觀的點擊式配置界面，線纜連接簡單，內置的元件模型能夠使用戶直接獲得有效的C-V測量結果。無論用戶是否具有相關測量經驗，都能使用該儀器實現專業級的C-V測量。

　　4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時利4200-LS-LC-12結合使用將實現更高測量效率。4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專用開關矩陣卡，通過單針探測能實現高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶如I-V測試一樣輕松配置和執行功能全面的C-V測試。

　　吉時利公司4200-SCS支持利用各種第三方測試設備進行C-V/I-V/脈沖測試的測試方法。這些特點使得4200-SCS/CVU非常適合于：半導體技術研發、工藝研發和可靠性研究實驗室;材料與器件研究實驗室和機構;需要臺式DC或脈沖測試設備的實驗室;需要體積小而功能多、儀器多的非專業實驗室與用戶。

　　吉時利對4200-SCS用戶提供持續軟硬件升級服務，這意味著4200-CVU模塊及其所有相關軟件和可選硬件都能夠兼容早期的4200-SCS系統。由此，用戶完全無須因為設備或材料技術的更新而頻繁購買新的參數化分析儀。通過低成本升級，4200-SCS系統能夠滿足技術進步帶來的測試需求。