R&S先進的IC測試方案,讓設計變得更簡單
“中國集成電路設計業2015年會暨天津集成電路產業創新發展高峰論壇”將于2015年12月10-11日在梅江會展中心舉辦。加快推動我國集成電路產業發展是新一屆中央政府做出的戰略決策。本次年會以“協同創新,提質增效,成就芯夢想”為主題,深入探討集成電路產業,特別是集成電路設計業面臨的機遇和挑戰;提升創新能力,增強中國集成電路產業鏈的綜合能力,以滿足市場的需求和提高國際競爭力。大會將對促進產業整合,提升核心競爭力,實現產業規?;焖侔l展產生深遠影響。
本文引用地址:http://www.j9360.com/article/283666.htm羅德與施瓦茨公司(Rohde & Schwarz,R&S)作為全球最大的電子和無線移動通信測試設備廠商之一,將首次在IC年會上展示其領先的針對IC設計與測試的產品和解決方案,包括寬帶無線通信測試技術,通用射頻微波芯片測試技術,收發機芯片測試技術,收發機芯片產線測試技術,先進相位噪聲測試技術,先進時域測試技術等方案。同時,針對頻域,時域和信號域的測試,R&S公司帶來了4款明星產品用于現場的演示和交流:
R&S ZNB20 矢量網絡分析儀
R&S SMW200A 矢量信號發生器
R&S FSW43 信號與頻譜分析儀
R&S RTO1044 數字示波器
與此同時,R&S公司將在“IC設計與封裝測試”專題論壇中,以“R&S先進的IC測試方案,讓設計變得更簡單”為主題,全面介紹R&S公司在IC設計與測試領域的產品和解決方案,特別包含可以助力IC 設計的獨有方案,期待與您分享,敬請關注。
通過參觀和交流,來賓將體驗到R&S公司的一流產品、服務以及先進理念,領略R&S公司打造的全方位IC測試方案平臺,來共同推動IC產業的創新與發展。
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