業界領先的半導體器件供應商兆易創新GigaDevice近日宣布，其GD32F30x STL軟件測試庫獲得了德國萊茵TüV（以下簡稱“TüV萊茵”）頒發的IEC 61508 SC3（SIL 2/SIL 3）功能安全認證證書，這也是繼GD32H7 STL軟件測試庫之后再次獲得的此類認證，這意味著兆易創新在功能安全領域的布局已全面覆蓋了Arm^? Cortex^?-M7內核高性能MCU和Arm^? Cortex^?-M4內核主流型MCU的軟件測試庫，將為用戶在工業領域的應用提供更豐富的產品選擇。這一系列成就彰顯了兆易創新對產品安全性、可靠性的不懈追求和堅定承諾，同時也顯示出公司在功能安全領域的專業實力和先進性。

GD32F30x STL軟件測試庫致力于為GD32F30x系列MCU的安全運行提供保障。它通過對內部CPU/DPU、FPU、MPU等核心組件的運行狀態進行監控，并對SRAM、Flash等內存區域進行定期檢查，能夠快速識別隨機硬件故障。如檢測出故障，GD32F30x STL軟件測試庫會立即觸發預設的安全響應機制，將MCU置于安全狀態中，從而降低潛在的風險隱患，為用戶解決和修復系統故障爭取時間。同時，還提供包括FMEDA和安全手冊在內的詳細文檔，確保產品在設計、開發和生產過程中符合特定的安全要求。

兆易創新CTO、MCU事業部總經理李寶魁先生表示：“隨著工業自動化和智能化的不斷深入，功能安全的重要性日益凸顯。GD32H7 STL和GD32F30x STL接連通過IEC 61508 SC3（SIL 2/SIL 3）功能安全認證，表明兆易創新在功能安全領域已經建立了成熟的管理體系，這對于鞏固GD32MCU產品的綜合競爭力、助力用戶以更短的時間開發出符合功能安全標準的產品具有重要意義。與此同時，基于Arm^? Cortex^? M33內核的GD32MCU軟件測試庫認證工作也在同步推進中，我們將繼續對標國際標準，持續推動公司技術進步和產品升級。”

TüV萊茵大中華區工業服務與信息安全總經理趙斌先生表示：“祝賀兆易創新再次獲得TüV萊茵STL功能安全認證！兆易創新在功能安全建設方面持之以恒地投入，展現出了對嚴苛安全標準的執著追求，我們對此高度贊賞。未來，我們將繼續秉承專業的技術要求，遵循嚴謹的認證流程，不斷深化雙方合作，助力兆易創新在功能安全領域取得更多新的突破。”