Mentor Graphics 公司今天宣布，公司旗下的 Tessent? DefectSim? 產品榮獲《電子產品》雜志 2016 年度產品獎。該獎項旨在表彰于 2016 年度面世且能夠代表創新設計和技術發展的產品，由該雜志社的各位編輯評選。

　　Tessent DefectSim 產品可測量針對模擬或混合信號電路的任何測試的缺陷覆蓋率。設計人員可借助這款工具執行可測試性設計 (DFT) 并選擇更高效的制造測試，以在集成電路 (IC) 設計中提高模擬和混合信號電路的質量。此外，它還可以顯示不會增加覆蓋率的測試，以及指示較為簡單或快速的設計是否可以達到更高的覆蓋率，從而使設計工程師可以降低測試成本。這款工具在缺陷覆蓋率測量方面滿足了一級汽車供應商根據 ISO 26262 汽車功能安全標準對汽車 IC 提出的越來越嚴苛的要求。

　　Tessent DefectSim 工具與 Mentor 的 Eldo? 和 Questa? ADMS? 仿真器配合使用，以測量在版圖提取型或電路圖網表中可檢測到的開路、短路、極端變化和用戶自定義缺陷或故障模型的幾率加權百分比。相較于對版圖提取型網表中的各個潛在缺陷進行仿真，Tessent DefectSim 產品結合了眾多技術(詳見我們經過同行審閱的論文)，既可將仿真的總時間縮短多個數量級，同時又能確保不降低仿真精度或減少測試選擇。

　　“這款分析工具已開發數年，也是唯一一款商用型通用模擬故障仿真器。我們非常欣慰，它能夠獲得行業的認可，”Mentor Graphics 混合信號 DFT 工程總監 Stephen Sunter 說道。“在此，我們要感謝眾多客戶的支持，幫助我們評估 Tessent DefectSim 工具，并提供了諸多建設性反饋，從而確保他們的 AMS 設計人員將能擁有數字設計人員在 30 年前便已具備的故障仿真能力，同時也大大促進了數字 DFT 和測試生成自動化的發展。”