a一级爱做片免费观看欧美,久久国产一区二区,日本一二三区免费,久草视频手机在线观看

新聞中心

EEPW首頁 > 光電顯示 > 設計應用 > 淺析LED常規性老化方式

淺析LED常規性老化方式

作者: 時間:2012-04-26 來源:網絡 收藏

led常規性老化試驗對比

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/200439.htm

一般來說,尤其是大功率在初始點亮階段光度都會有一定的衰減,封裝廠為了提供給應用端廠商發光穩定的產品,或者是應用端廠商家為了獲得穩定的led材料,通常都會做一些老化試驗。當然老化試驗有多種,如常規性老化、過電流沖擊破壞性試驗等等。

LED廠商通常會用以下幾種進行常規性老化:

1、多顆管串聯老化:恒壓老化電路和恒流老化電路

2、多顆管并聯老化

3、多顆管串并聯老化:串并恒壓老化和串并恒流老化

4、單管恒流老化

比較以上4種老化,1、3種方式中只要有一顆LED出現品質故障,比如LED短路或者斷路都會影響別的LED的工作電流參數。第2種方式優于1、3種,任一顆LED特性變化不會影響到別的LED老化參數,但事實上靠電阻限流的方式是不可靠的,電阻本身阻值漂移和LED自身電壓特性變化都會嚴重影響LED參數。顯然,第4種單管恒流老化抓住了LED電流工作特性,是最科學的LED老化方式。

老化在試驗過程中應該是一個非常重要的過程,但在很多企業往往會被忽視,不能進行正確有效的老化,后面對LED本身所進行的包括亮度、波長等所有參數的分析都將不確定。過電流沖擊性老化也是廠家經常使用的一種老化手段,通常使用頻率可調、電流可調并且占空比可調的恒流源進行此類老化,以期待短時間內判斷LED的品質及預期壽命。



關鍵詞: LED 方式

評論


相關推薦

技術專區

關閉