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燦芯半導(dǎo)體第一顆40nm芯片驗(yàn)證成功

作者: 時間:2011-06-22 來源:今日投資 收藏

  (上海)有限公司與集成電路制造有限公司(簡稱“”,紐約證交所股票代碼:SMI,香港聯(lián)合交易所股票代碼:HK0981)共同宣布第一顆芯片在一次性流片驗(yàn)證成功。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/120653.htm

  與新思科技有限公司(Synopsys, Inc.,)及中芯國際深度合作,使?fàn)N芯自主研發(fā)的 芯片一次性流片成功。這顆芯片集成了 Synopsys DesignWare嵌入式存儲器和邏輯庫,以及中芯國際自主研發(fā)的 PLL、I/O 等關(guān)鍵 IP 部件,成功驗(yàn)證了燦芯半導(dǎo)體在 工藝線上的前端和后端設(shè)計(jì)流程。

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