- 多年來持續試跨越芯片制造工藝代差的華為公司29日表示,通過系統的設計和工程建設能解決算力與分析能力的問題,從而消除在芯片上的代差。未來芯片創新不應只在單點的芯片工藝上,而是應該在系統架構上,要用空間、帶寬、能源來換取芯片工藝上的缺陷。據《快科技》報導,在今天的數據大會上,華為常務董事張平安就芯片技術發展發言指出,「通過系統的設計和工程建設可以解決我們整體數字中心的能力、算力和分析能力問題,可以消除我們在芯片上的代差。」張平安說,「在華為看來,AI數據中心耗能非常大,人工智能耗能更多,需要數能結合。」在這之
- 關鍵字:
工藝 華為 系統設計 芯片代差
芯片代差介紹
您好,目前還沒有人創建詞條芯片代差!
歡迎您創建該詞條,闡述對芯片代差的理解,并與今后在此搜索芯片代差的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司

京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網安備11010802012473