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硅碎 文章 進入硅碎技術社區

半導體三極管的失效分析與可靠性研究

  • 三極管在電路中主要起放大和開關作用,產品在實際應用中失效多單,經分析主要故障為短路與開路失效。通過X光、CT掃描、開封等方法分析研究,發現此故障為焊接不良、塌絲導致。對全流程包含設備的生產環節進行整改,并通過優化檢測方法、增加顯微鏡檢查以及X光全檢等檢測設備,提高產品可靠性。
  • 關鍵字: 虛焊  硅碎  塌絲  顯微鏡  X光透視  測試方法  202201  
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