通過左移DRC設計規則檢查方法降低IC設計復雜性

• 最成功的半導體公司都知道，集成電路 （IC） 設計日益復雜，這讓我們的傳統設計規則檢查 （DRC） 方法不堪重負。迭代的“通過校正構建”方法適用于更簡單的自定義布局，但現在卻造成了大量的運行時和資源瓶頸，阻礙了設計團隊有效驗證其高級設計和滿足緊迫的上市時間目標的能力。為了克服這種設計復雜性，主要半導體公司不斷從其生態系統合作伙伴那里尋找有效的工具。西門子 EDA 是一家大型電子設計自動化 （EDA） 公司，它提供了一種新的、強大的左移驗證策略，他們對其進行了評估并宣布它改變了他們早期設計階段的游
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