- CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產品的制造商需要測量靜態(或“待機”)電源電流用于驗證生產測試質量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態條件下測
- 關鍵字：
2600 數字源表 IDDQ
- 引言 測試CMOS電路的方法有很多種，測試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應測試，即通常所說的功能測試。功能測試可診斷出邏輯錯誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路
- 關鍵字：
CMOS IDDQ 電路 測試
- 摘要：針對CMOS集成電路的故障檢測，提出了一種簡單的IDDQ靜態電流測試方法，并對測試電路進行了設計。所設計的IDDQ電流測試電路對CMOS被測電路進行檢測，通過觀察測試電路輸出的高低電平可知被測電路是否存在物理缺
- 關鍵字：
電路設計 測試 IDDQ 電路 CMOS
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