a一级爱做片免费观看欧美,久久国产一区二区,日本一二三区免费,久草视频手机在线观看

新聞中心

EEPW首頁 > 模擬技術 > 設計應用 > 基于I2C總線的大型開關矩陣設計與實現

基于I2C總線的大型開關矩陣設計與實現

作者:王振生 劉耀周 劉煥照 時間:2008-05-30 來源:國外電子元器件 收藏

  1 引言

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/83381.htm

  設備在軍事及工業領域的應用越來越廣泛,然而在電路單元尤其是電路板測試中,由于被測單元種類多,被測通道數量大,傳統的體積大、切換速度慢、電氣性能差。已不能滿足現代測試儀器高速、便攜的要求。本文介紹了一種采用接口,利用總線傳輸數據,由控制多路復用器件的大型結構,具有較高的切換速度及較好的電氣性能,并滿足了小型化的要求。

  2 系統結構及功能

  主要實現設備與被測電路單元之間的信息交換,功能如下:

  (1)將程控電源系統輸出的電源自動加至被測電路單元要求的引腳上;

  (2)將設備信號源分系統輸出的信號轉接至被測電路單元要求的引腳上;

  (3)將被測電路單元輸出的信號轉接至自動測試設備的適當測量通道上;

  (4)為被測電路單元提供必要的外接元件,如負載、調整旋鈕、大體積器件等。

  不同的被測電路單元其連接器定義不同,每個插針都可能被定義為電源、輸入信號、輸出信號、外接元件端子之一。并且現代電子設備的電路單元通道數很多,大量的信號通道對ATE的開關矩陣設計提出了嚴峻的挑戰。本文所設計的開關矩陣采取針床連接方式,可有效連接多種接插件。通過單片機控制的多路復用器,可將信號加至所需的被測通道,系統結構框圖如圖l所示。

  3 硬件設計

  3.1 測試電路結構

  測試電路結構組成如圖2所示。系統采用上、下位機的結構,上位機由計算機及控制軟件組成,下位機由總線接口及控制板組成,模塊通過總線將控制數據傳送給控制板上各個測試模塊??刂瓢迳细鳒y試模塊收到總線發送來的串行碼流,譯碼后提取地址值,控制模塊中的多路復用器選取相應通道。是一種串行總線的外設接口,它采用同步方式串行接收或發送信息,主從設備在同一個時鐘下工作,I2C由數據線SDA和時鐘線SCL構成雙向串行總線,由于I2C只有一根數據線,因此信息的發送和接收只能分時進行。各模塊組件均并聯在總線上,每一個模塊都有唯一的地址。因此系統可在允許范圍內增加或減少被測板數量,I2C總線上各節點模塊支持熱插拔,所以采取該方案可以有效減小測試系統體積,使用操作方便,可同時連接多個被測單元。

        

  3.2 控制電路組成

  本系統中,控制板上各測試模塊均通過I2C總線與測試主機進行通訊,各模塊地址由板上I2C芯片地址唯一確定,主機首先確定各板卡地址進行板選,與相應板卡建立通訊后,發送串行控制數據SDA。在同一時刻,I2C總線上只能有一個模塊處于活動狀態,利用多路復用器狀態的“保持”特性,即可實現測試模塊上及測試模塊之間探針的切換??刂瓢咫娐方Y構組成如圖3所示。

       

  PCA9501是一款帶中斷的8位I2C和SMBus總線器件,用于接收總線發送的數據并與本地地址進行比較,若結果相同則將數據轉換成并行地址信號送至器件EMP7128,用來接收PCA9501發送的并行數據,并分析數據內容,將不同的串行數據轉換成相應的并行控制數據并通過I/O端口送出,從而控制32路多路復用器件ADG732的通道選擇。

  4 系統軟件設計

  系統軟件包括主機控制程序和下位機測試程序,主機控制程序可以采用通用編程工具如VisualC++或者C++Builder等來進行編寫。下位機測試程序包括USB控制程序、I2C發送程序、CPLD控制程序,其中USB控制程序及I2C發送程序是對USB控制器CY7C68013進行編程,采用Keil C51編譯器開發,CPLD控制程序采用MAX PLUSⅡ進行開發,Verilog HDL硬件描述語言編寫。

  4.1 主機控制程序設計

  主機控制程序設計取決于下位機控制流程,下位機控制流程如圖4所示。

        

  (1)打開USB設備并進行初始化,然后復位設備,將所有ADD732芯片內部開關打開。

  (2)主機下達命令進行被測板選擇,被測板地址由被測板上的PCA9501確定,對被測板進行選擇只需向所需地址發送數據即可,所有被測板對接收到的地址數據進行比較,只有通過比較的被測板才會通過PCA9501將數據發送給CPLD。

  (3)選取被測板,選擇測試芯片,即多路復用器陣列中多路復用器件的選擇,CPLD解析接收到的芯片選擇數據,將該數據轉換成對多路復用器的片選信號,并禁用多路復用器件。

  (4)主機程序將測試點地址發送到USB端點緩沖區,由CPLD解析發送的端點選擇數據,將該數據轉換成對多路復用器的通道選擇信號,并使能多路復用器件,將板選、片選及測試點選擇數據同時送出,則相應被測板上的多路復用器將導通,從而實現測試點的選擇。

  (5)每個芯片上所有點測試完畢后,在進行下一個芯片測試之前,需要將該芯片復位。同樣在所有測試點測試完畢后,將整個開關矩陣復位。


上一頁 1 2 下一頁

評論


相關推薦

技術專區

關閉