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測試單片機系統的可靠性的方法簡介````

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作者: 時間:2007-11-29 來源:網絡 收藏

   可以分為軟件和硬件兩個方面,我們要保證就必須從這兩方面入手。 

 
    首先在設計時,就應該充分考慮到外部的各種各樣可能干擾,盡量利用單片機提供的一切手段去割斷或者解決不良外部干擾造成的影響。我們以HOLTEK最基本的I/O單片機HT48R05A-1為例,它內部提供了看門狗定時器WDT防止單片機內部程序亂跑出錯;提供了低電壓復位系統LVR,當電壓低于某個允許值時,單片機會自動RESET防止芯片被鎖死;HOLTEK也提供了最佳的外圍電路連接方案,最大可能的避免外部干擾對芯片的影響。 

    當一個單片機系統設計完成,對于不同的單片機系統產品會有不同的項目和方法,但是有一些是必須的: 

    單片機軟件功能的完善性。 這是針對所有單片機系統功能的測試,測試軟件是否寫的正確完整。

 
  上電掉電測試。在使用中用戶必然會遇到上電和掉電的情況,可以進行多次開關電源,測試單片機系統的。 

    老化測試。測試長時間工作情況下,單片機系統的。必要的話可以放置在高溫,高壓以及強電磁干擾的環境下測試。 

    ESD和EFT等測試。可以使用各種干擾模擬器來測試單片機系統的可靠性。例如使用靜電模擬器測試單片機系統的抗靜電ESD能力;使用突波雜訊模擬器進行快速脈沖抗干擾EFT測試等等。 

    PS:當然如果沒有此類條件,可以模擬人為使用中,可能發生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口,由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機系統工作,由此測試抗電磁干擾能力等。



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