安立公司為 VectorStar VNA 系列的 O/E 校準模塊增添雙波長測量功能
安立公司為 MN4765B 系列 O/E 校準模塊推出兩個選件,旨在針對光電組件(如調制器、光接收器和集成光收發模塊)的特性提供高精度、高靈活性且具有成本效益的測量解決方案。有了這些新選件,MN4765B 即可與 MS4640B VectorStar? 矢量網絡分析儀 (VNA) 系列結合使用,在波長為 1310 nm 和 1550 nm 時進行高達 70 GHz 的光電測量。
本文引用地址:http://www.j9360.com/article/283506.htm選件 71 允許 MS4765B 與 VectorStar VNA 結合使用,以在 1310 nm 范圍內進行 70 kHz 到 70 GHz 的光電測量,而選件 72 可在波長為 1310 nm 和 1550 nm 時提供 70 kHz 到 70 GHz 的測量。兩個選件均使用 NIST 規定的典型光電二極管為基準,與其他替代方案相比,可實現更好的 E/O 和 O/E 測量精度。
MN4765B 模塊與 MS4640B VNA 結合使用,為光電測量提供一種簡化方法,是當前使用的傳統全系統方法的一種經濟的替代選擇。MN4765B 光模塊設有可將調制光信號轉化為電信號的 InGaAs 光電二極管。該光電二極管對 70 GHz 的帶寬響應非常出色。該模塊還融合了可實現溫度和零偏穩定性的額外電路。
有了新波長選件,MN4765B O/E 校準模塊即可用于雙波長光電測量,以分析研發和制造中的元件。它還非常適用于正在探索雙波長時高達 70 GHz 調制率的大學和研究實驗室。
VectorStar VNA 可在單次掃描頻率為 70 kHz 到 20 GHz、40 GHz、50 GHz、70 GHz、110 GHz、145 GHz 及各種離散頻帶直至 1.1 THz 的范圍內提供更精確的測量。與市場上其他 VNA 解決方案不同,VectorStar 系列建立在一個穩定的現代化平臺上,該平臺可輕松實現一系列功能和性能的升級。MS4640B VNA 系列性能優越,因此,器件建模工程師可準確可靠地分析其組件。研發工程師可獲取其先進設計中的 dB 最后分數,制造工程師可在不犧牲精度的情況下實現生產量最大化。
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