近日，在NIDays 2015會上，NI以“共創物聯時代”為主題，發布了針對物聯網應用的各種新產品新技術，全面開始向物聯網應用進軍，希望以物聯網為業務拓展重點，與客戶和合作伙伴一起，共同迎接物聯時代的商業機遇。

在主題演講中，NI亞太區副總裁 Chandran Nair代表NI公司向與會的幾百名工程技術人員致辭，并希望NI新成立的亞太區能夠更好的為中國客戶提供先進的技術和貼心的服務。NI嵌入式產品全球市場總監 Jamie Smith則重點介紹了NI在工業物聯網方面提供的平臺化解決方案的宏觀策略，以及如何借助先進的FPGA和ADC等產品，更好地發揮NI在物聯網應用中的技術價值。隨后NI的技術市場工程師通過具體的案例，詮釋了NI如何在LabVIEW、PXI及CompactRIO等多個平臺基礎上，為眾多客戶提供個性化的技術支持。

作為測控和數據采集技術的領導者，NI除了原有的產品和技術可以廣泛應用到物聯網應用之外，在本次NIDays上還特別推出了基于開放、靈活的LabVIEW可重配置I/O (RIO)架構的全新嵌入式系統硬件。該硬件包含了以下三個控制器：高性能CompactRIO控制器 ，適用于需要系統堅固可靠、環境嚴苛的工業應用領域的工程師和系統集成商；FlexRIO控制器，適用于高性能嵌入式應用設計工程師；以及Single-Board RIO控制器，適用于需要提高嵌入式應用靈活性的設計工程師。這些控制器集成了來自Intel和Xilinx的最新嵌入式技術，旨在幫助系統設計工程師和機器開發人員應對最嚴峻的控制和監測挑戰。控制器基于SELinux ，完全受到LabVIEW軟件、LabVIEW FPGA模塊和NI Linux Real-Time的支持，為工業物聯網應用提供了高級的安全功能。為了滿足不斷變化的工業物聯網需求，NI平臺集成了智能系統、各種連接選項和系統間通信功能，同時提供了專業的分析軟件工具來幫助用戶獲得商業洞察力以及為客戶提供附加值。

NIDays另一個重量級的新產品發布是無線測試系統(WTS)，一款可大幅降低批量無線生產測試成本的解決方案，WTS 結合了最新的PXI 硬件，為多標準、多DUT 和多端口測試提供了一個統一平臺。該系統結合TestStand 無線測試模塊等靈活的測試序列生成軟件，可幫助制造商大幅提高并行測試多個設備時的儀器利用效率。WTS 可輕松集成到生產線中，提供了可立即運行的測試序列來測試采用Qualcomm 和Broadcom 芯片的設備、集成式DUT 和遠程自動化控制。借助這些

為了突出今年的共創物聯時代的主題，本次NIDays特別邀請了產業鏈的伙伴通過“IoT Summit”的形式，共同探討IoT帶給工業企業的機遇。受邀的嘉賓包括美國辛辛那提大學特聘講座教授李杰教授，清華大學精密儀器系王雪教授，賽靈思ISM高級技術營銷經理羅霖，HIS亞太區工業自動化張鍵總監，幾位業內專家與NI中國區市場經理湯敏共同就IoT和工業物聯網在全球與國內的市場發展和現狀進行了深入的探討。