儀器主要包括發射253.7納米譜線的汞燈，氣體吸收室及光電放大和測量等裝置。進入吸收室的氣體樣品，如含有微跡的汞，則通過吸收室的光線會因部分被汞吸收而減弱。根據光線減弱的程度可以測出氣體中的汞含量。二氧化硫及許多稀有氣體253.7納米譜線鄰近。對譜線都顯著的吸收。因而產生嚴重的干擾。由于消除干擾方法的不同而設計制成了多種類型的測汞儀。

　　例如：

　　①利用貴金屬捕集器使汞被截留，使干擾氣體逸去

　　②使樣品氣流分成兩股，將一股中的汞事先移除，然后比較同一光源通過兩個吸收室時的輸出

　　③利用壓致展寬效應，將通過吸收室后的光線分成兩股，一股再通過飽和汞蒸氣室，然后測量兩股透出光線強度的比值

　　④利用“塞曼效應”，比較在光源上施加磁場與不加磁場時，通過吸收室的光線強度的比值。根據實用上的要求，已制成了裝在汽車及飛機上進行連續測定汞的儀器，以及能就地進行測定的輕便背包式的測汞儀器等。