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一款智能參數測試儀的設計

作者: 時間:2014-03-17 來源:網絡 收藏

  0 引言

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/234834.htm

  產品檢測是生產廠家和用戶都關心的問題。在產品生產過程中,檢測是必不可少的一部分,有的還是工藝過程的一道工序。電磁繼電器是電力系統以及其他電氣控制系統中常用的開關元件,它們的可靠性是電力系統和其他電氣控制系統可靠運行的重要保證,因此,必須對繼電器的特性參數進行準確的測試。電磁繼電器的電氣參數主要有線圈電阻、觸點接觸電阻、吸合電壓、釋放電壓、吸合時間、釋放時間等。這些參數對研究繼電器可靠性、動態性能具有重要意義,是保證其質量特性的重要參數。

  1 系統總體架構

  1.1 系統硬件結構

  系統硬件主要包括UART 串口通信模塊、JTAG 接口模塊、測試結果顯示模塊、檢測程序存儲模塊FLASH、檢測電路模塊以及SRAM 模塊。系統總體硬件結構框圖如圖1 所示。

  

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  1.2 系統微處理器

  本系統主要由檢測部分和顯示控制部分組成。在本設計中,采用了高性能的ARM Cortex 芯片F103ZET6.

  該芯片內部采用哈佛結構,其中集成有64 KB 的RAM 和512 KB FLASH,并且具有運算速度快、體積小和低功耗的特點,完全能滿足本設計的要求。Cortex-M3 是一個32 位的核,它采用的是Tail-Chaining 中斷技術,最多可減少12 個時鐘周期數,基于硬件進行中斷處理,通常可減少70% 的中斷。Cortex-M3 還采用了新型的單線調試(Single Wire) 技術,可對獨立的引腳進行調試。

  1.3 系統工作流程

  系統上電后,首先完成對各個寄存器的初始化工作,然后等待開始檢測命令;單擊上位機界面上的START 命令,然后上位機給單片機發送開始檢測命令;單片機接到開始命令后開始向檢測電路發送檢測命令,然后單片機處理檢測電路發回的數據,得出繼電器的各個參數,通過串口把這些參數顯示在上位機的界面上。

  2 系統硬件設計

  2.1 驅動電壓的設計

  為了準確測出繼電器的吸合電壓,必須得到一個從0 開始按照一定量增大的電壓源,每次增大的電壓量越小,測試的結果越準確,但是所要求的電路也越復雜,所以我們必須根據實際的要求在這中間找到一個平衡點。圖2 所示為系統驅動電壓電路。

  

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  圖2 中,TL431用于給TLC5615 提供2.5 V 的基準電壓源,DA_DIN 是串行數據輸入端,DA_CS 是低電平有效的片選信號輸入端,DA_SCK 是串行時鐘輸入端,DOUT 是用于級聯的串行數據輸出端,OUT 是DAC 模擬電壓輸出端,輸出模擬信號。由于從TLC5615 輸出的模擬信號很小,不能驅動繼電器,所以,本設計在后面又加上了放大電壓電路和放大電流電路。

  2.2 集成切換網絡的設計

  本系統的集成切換網絡是利用繼電器的開關工作原理完成的,利用單片機發出的不同指令控制繼電器的閉合,從而切換到不同的測試電路模塊。在測試吸合/ 釋放電壓時,首先ARM Cortex 發出測試參數為吸合/ 釋放電壓的指令。集成切換網絡根據指令,切換到Prog_v 一側,XQ1I 連接所測繼電器觸點一端,具體電路如圖3 所示。

  

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  為了解決單片機的I/O 驅動能力不足的問題, 選用ULN2003 作為繼電器的驅動芯片。ULN2003 是高壓大電流達林頓晶體管陣列電路,它具有工作地電壓高,工作電流大,灌電流可達500 mA,并且能夠在關態時承受50 V 的電壓,輸出還可以在高負載電流并行運行。它采用集電極開路輸出,輸出電流大,故可直接驅動繼電器。ULN2003 的每一對達林頓管都串聯一個2.7 kΩ 的基極電阻,在5 V 的工作電壓下它能與TTL 和CMOS 電路直接相連,可以直接處理原先需要標準邏輯緩沖器來處理的數據。通常單片機驅動ULN2003 時,上拉2 kΩ 的電阻,同時,COM 引腳應該懸空或接電源。

  2.3 數據處理及與上位機的通信

  接收到的數據通過異步串口管腳與3.3 V 轉換芯片MAX232 相連,外接串口線同PC 機進行通信,接收和發送數據, 作為下位機負責接收上位機的指令以及控制各部分電路并處理數據,然后向上位機發送數據,PC 機接收數據,并通過VC 編程把接收的數據通過界面顯示出來。這里PC 機的VC 通過串口發送命令給,主控芯片接收命令并判斷有效,即可開始控制電路進行工作[6].由于篇幅所限,本文未對STM32 的最小系統硬件部分作詳細說明。

  3 系統軟件設計

  系統軟件部分主要包括STM32 微處理器控制程序和上位機程序兩部分。由于下位機軟件使用C 語言來開發,所以選擇了一款支持C語言編程的開發環境。由于使用的是J-LINK接口調試方式[7],選擇用IAR SYSTEM 作為下位機的控制平臺開發工具。

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關鍵詞: STM32 測試儀

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