其次，注入(an)和反射(bn)波由直接耦合器采樣，并經(jīng)射頻測試裝置下變頻為低中頻(IF)信號，并由ADC在時域中捕獲每個信號。FFT用來將信號轉(zhuǎn)換到頻域，并計算測量得到的反射系數(shù)與調(diào)制帶寬的關(guān)系。

　　第三，將測量得到的信號中每個頻率分量的反射系數(shù)與用戶預(yù)定義的值進(jìn)行比較，然后在頻域中調(diào)整原始注入信號(a1，n， a2，n)，并收斂到用戶定義的值。接著使用反向FFT將新的注入信號轉(zhuǎn)換到時域，并上載到DAC產(chǎn)生新的基帶信號。這些信號被射頻測試裝置上變頻為目標(biāo)頻率，并回送給DUT。如同最初的開環(huán)方法中一樣，使用迭代過程比較創(chuàng)建的波形和目標(biāo)波形，并根據(jù)需要進(jìn)行連續(xù)校正。圖6給出了描述這個過程的流程圖。

　　創(chuàng)新的MT2000系列混合信號有源負(fù)載拉移系統(tǒng)提供從0.4至26.5GHz的寬帶能力，支持用寬帶調(diào)制信號實(shí)施從標(biāo)準(zhǔn)帶寬到120MHz(可用帶寬到240MHz)的負(fù)載拉移測量。

　　利用MT2000系列負(fù)載拉移系統(tǒng)可以實(shí)時開展單頻測量，測試速度可以超過每分鐘1000個功率和阻抗負(fù)載狀態(tài)。MT2000系統(tǒng)可以使用90個基準(zhǔn)負(fù)載狀態(tài)、掃頻式負(fù)載與源諧波端接以及16個功率電平在5分鐘內(nèi)執(zhí)行獨(dú)立的完全受控的多維負(fù)載拉移參數(shù)掃描并捕獲5000多個測量點(diǎn)。

　　混合信號開環(huán)技術(shù)的優(yōu)勢有很多：高速單頻器件表征，高伽瑪，對實(shí)際通信標(biāo)準(zhǔn)兼容的調(diào)制信號提供寬帶控制，最終形成非常實(shí)用的DUT表征，而它的有源特性允許方便地集成晶圓上的測量系統(tǒng)。

　　與閉環(huán)技術(shù)不同，混合信號開環(huán)技術(shù)沒有反饋路徑，因此不會產(chǎn)生調(diào)諧環(huán)路振蕩。與傳統(tǒng)的開環(huán)有源負(fù)載拉移方法相比，可以達(dá)到更高的測量速度，不再需要為每個阻抗受控頻率準(zhǔn)備單個合成器。另外，系統(tǒng)的開環(huán)特性使得注入放大器可以被一直使用到飽和功率電平，因?yàn)樾盘柡铣珊头治隹梢宰R別由于功率放大器造成的非線性問題，并通過修改注入信號自動進(jìn)行補(bǔ)償。

　　最后，由于有源負(fù)載拉移系統(tǒng)只控制目標(biāo)頻率處的阻抗，DUT看到的系統(tǒng)特征阻抗即使對帶外頻率來說也是50Ω。這樣可以減少在使用無源負(fù)載拉移技術(shù)時可能發(fā)生的帶外振蕩。