評定封裝可靠性水平的MSL試驗
摘要:隨著塑料封裝集成電路在眾多領域中的廣泛應用,封裝的質量和可靠性水平越來越受到廣大用戶的關注。作為評定和考核封裝可靠性水平的重要特征參數,除通常采用的環境試驗如Autoclave(PCT)、HAST Bias、TH Bias外,MSL(Moisture Sensitivity Level)試驗已成為其中最重要的試驗項目之一。
1 前言
集成電路的塑料封裝由于成本低、質量好、易自動化、批量大生產,在國內外早已形成工業化大生產的格局。近一時期,隨著筆記本電腦、攝錄機、手機等重量的減輕,帶來與這些配套的集成電路和元器件更小型化和微型化的趨勢。這必然促使對電子元器件的封裝要求越來越小和越來越薄。如32腳薄型的QFN(Quad Flat No Lead)塑料封裝長×寬×高尺寸只有5mm×5mm×0.8mm,腳與腳間距為0.5mm。
由于對封裝要求的提高,必然需要相應的封裝設備、封裝材料和受控的封裝工藝生產線來加以保證,尤其對塑料封裝的抗潮性能將會提出更高的要求。
因為封裝的模塑料是改性環氧塑料,它屬于熱塑性、線型性的高分子樹脂,并且它本身具有吸濕和透濕兩重性,所以封裝的優劣將導致成品對水氣敏感或不敏感,以致直接影響和降低成品的抗潮性能。
2 模塑料與水的敏感程度
下面的實驗數據充分說明模塑料的抗潮性能。表1和圖1列出不同模塑料在標準大氣條件和一定時間內的吸濕數據。從吸濕的結果來看,模塑料1的抗潮性比模塑料2好,而模塑料2的抗潮性比模塑料3好。
圖2為不同的模塑料(不同的封裝形式)在121℃/100%RH/15:Psig的潮氣中的吸濕狀況和其吸濕達到飽和所需要的時間。從模塑料的材料來看,模塑料4的抗潮性優于模塑料1,而模塑料1的抗潮性則優于模塑料3;從材料吸濕達到飽和的時間來看,TSSOP8封裝的抗潮性劣于SOIC8封裝,而SOIC8封裝的抗潮性則劣于SMD8封裝。
3 MSL試驗
(1)試驗目的
鑒別非氣密性固態表面貼裝器件對潮氣產生的應力的敏感度分級,使塑料封裝產品可以被正確地包裝、貯存和搬運,以免其在回流焊貼裝和/或修理操作中引起損傷。
(2)適用范圍
適用于非氣密性固態表面貼裝器件。
(3)試驗流程
(4)潮氣敏感度級別
(5)回流焊接的峰值溫度的條件
(6)試驗樣品的數量
有可靠性試驗評估的:11個/每個級別;沒有可靠性試驗評估的:22個/每個級別。
(7)失效標準

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