間歇性內存故障處理起來可能會非常復雜。這些故障的根源可能是一種原因或多種不同原因的組合，包括BIOS錯誤、協議錯誤、信號完整性問題、硬件問題、內存或其它子系統問題。盡管有些團隊能夠迅速解決內存調試問題，但更多團隊在遇到間歇性故障時會束手無策。本文概括介紹了間歇性內存故障的調試方法，文中通過多個實例，說明了如何才能找出引起內存問題的不同原因。對于經常遇到系統未能引導或內存測試失敗的工程師來說，也可從本文介紹的調試方法中受益。

　　圖1：DDRII激活時的高分辨率定時軌跡。

　　各種子系統、不同工作模式和多種循環導致的串擾和資源沖突一直是引起許多間歇性內存故障的根本原因。對于間歇性內存故障，查找其根本原因的方法分成三步：1） 確定故障是否可以重復。試著復制產生故障的條件。重復故障通常可以有效地查看故障的特點。2） 使用普通探頭或插槽式分析探頭把內存總線連接到邏輯分析儀上，以迅速查看：整個DDRII總線的定時關系、百萬分之幾概率的誤碼、協議錯誤和時鐘質量。3） 用高速示波器及高帶寬探頭，在信號的接收端進行參數測量，包括：對于寫入內存的數據在SDRAM上進行探測和對于從內存讀出的數據在內存控制器上進行探測。

　　評估內存故障要考慮的因素

　　在試圖重建故障條件時，記住故障的根本原因可能來自未直接連接到內存上的子系統或子應用。局域網接入、子系統上電順序、進入或退出睡眠模式以及電源周期都是在評估內存故障時需要考慮的重要因素。

　　在某個特殊的測試或設置條件下隔離問題，可以使問題變的比較容易。例如，在某項測試過程中發生的故障可能會指向軟件程序或信號完整性問題，如串擾或碼間干擾。對可重復故障，用戶可以在故障條件下進行多次測量。

　　重復故障條件說起來容易，但做起來要難得多。需要考慮的細節包括：

　　圖2：CK0和S0的眼掃描（Eye Scan）。

　　軟件：是否有錯誤記錄？BIOS、操作系統和應用程序是否在測試時運行？

　　環境：在系統出現故障時室內溫度是多少？在故障期間，被測系統的空氣流動情況如何？系統供電是否在技術規范之內？

　　硬件：采用同一設計的其他系統是否已經通過驗證測試？其它系統也有故障？還是只有這個系統發生這種故障？故障系統的電路板、DIMM、處理器等是什么版本？故障系統與工作系統有什么區別？制造中最新的元器件有什么變化？

　　如果條件可以重復，那么在這些條件下進行測試；如果條件不能重復，那么選擇最好的內存進行測試，并按順序改變測試條件（如溫度極限和電源極限）。

用邏輯分析工具縮小問題區域

　　在調試 DDR系統時，邏輯分析有效地補充了高速示波器的限制。使用DDR探頭或插槽分析探頭進行邏輯分析，可以迅速查看系統中的問題區域。通過使用邏輯分析工具迅速縮小問題區域，然后使用高性能示波器檢查可疑的信號，工程師可以節約大量的時間。