天線測量解決方案領導者Microwave Vision Group（MVG）近日宣布在2025年IDEX國際防務展上正式推出其全新解決方案 SpeedProbe DL，該展會匯聚了來自超過65個國家的參展商和國際代表團。MVG首席商務官 Pierre Jurek 和銷售總監 Per Noren 在展會期間向國際防務代表團、參展企業及參觀者展示了SpeedProbe DL解決方案如何通過相較于單探頭系統高達5倍的校準速度，顯著提升有源相控陣天線在防務領域的測試效率與性能。

MVG銷售總監Per Noren表示：“SpeedProbe DL解決方案 在IDEX展會上一經推出，即收到了非常熱烈的反響。客戶普遍認為這是一次真正的技術創新，不僅加快了天線校準速度，還帶來了可觀的投資回報。該系統支持從L波段到Ku波段的靈活多探頭配置，幫助客戶在提升測試效率的同時，為未來的技術演進做好準備，滿足了防務及航空航天行業長期以來的迫切需求。”

有源相控陣天線校準的創新方式

SpeedProbe DL 可通過簡單的硬件升級，將現有單探頭系統擴展為多探頭系統，大幅提升防務類天線產品的測試效率，特別適用于批量化生產場景。

為什么選擇升級？

●   高達5倍更快的校準效率：顯著縮短有源相控陣天線的測試周期。

●   可定制的多探頭陣列：支持從L波段至Ku波段的寬頻覆蓋，采用多顆微型化探頭，適應多樣化測試需求。

●   實時測量能力：自動化實現波束指向、增益及方向圖測量分析。

●   極低停機時間：探頭模塊易于更換，系統維護便捷。

●   高投資回報率：具備良好的長期成本效益及可擴展性。

SpeedProbe DL 提供了一種靈活可擴展的測量解決方案，幫助防務行業用戶在保障校準一致性和高性能的同時，顯著提高整體測試效率并降低長期運營成本。