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是德科技推出適用于功率半導體的3kV高壓晶圓測試系統

作者: 時間:2024-10-11 來源:EEPW 收藏


本文引用地址:http://www.j9360.com/article/202410/463571.htm

●   通過高壓開關矩陣實現一次性測試,進而提高生產效率

●   該系統旨在提高操作人員與設備的安全性;同時確保符合相關法規要求

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推出適用于的3kV系統

(Keysight Technologies, Inc.)近日推出全新的4881HV系統,進一步擴展了其半導體測試產品組合。該解決方案通過在一次性測試中高效完成高達3kV的高低壓參數測試,從而顯著提升了制造商的生產效率。

傳統上,制造商一直采用分別針對高壓和低壓的測試設備來測量晶圓。然而,隨著多功能性、高性能的以及碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等新一代半導體器件的市場需求迅速增長。因此,客戶亟需一種能夠以更準確、更高效的方式測試其設備,并縮短產品上市時間的解決方案。

的解決方案通過使功率器件制造商能夠在生產過程中執行PCM和 WAT操作,進而有效應對了這些挑戰。這一全新的測試系統具有以下優勢:

●   高壓性能滿足未來需求:高壓開關矩陣 (HV-SWM) 可支持高達 3kV 的要求,并且可擴展至 29 個引腳,同時與精密的源測量單元 (SMU) 實現無縫集成。這一特性使得系統可在任何引腳上實現從低電流到亞皮安(pA)級分辨率,直至3kV高壓的靈活測試。此外,該系統還支持高壓電容測量和各種參數測試。

●   一次性測試提高生產效率:HV-SWM 允許使用單一的測試系統來替代傳統上需要分別配置的高壓和低壓測試系統。這種做法不僅提高了工作效率,還顯著減少了測試所需的場地占用和時間消耗。此外,該系統通過使用是德科技的SPECS-FA軟件與工廠自動化環境實現無縫集成,從而提高整體生產流程的效率。 

●   更高的安全性和可靠性:測試系統內置了保護電路和機器控制措施,確保操作人員和設備在測試過程中不會受到高壓浪涌的影響。同時,該系統還嚴格遵循包括SEMI S2標準在內的各項安全法規,確保使用過程中的安全性與可靠性。

是德科技晶圓測試解決方案業務副總裁兼總經理Shinji Terasawa表示:“是德科技很高興能在長期測試先進半導體的基礎上,推出全新的功率半導體晶圓測試系統。我們的使命是通過提供前沿的解決方案,來預測并滿足半導體行業日新月異的需求,從而引領市場。這一最新創新成果彰顯了我們對行業的堅定承諾?!?/p>



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