針對軍品級SRAM型FPGA的單粒子效應特性,文中采用重離子加速設備,對Xilinx公司Virtex-II系列可重復編程FPGA中一百萬門的XQ2V1000進行輻射試驗。試驗中,被測FPGA單粒子翻轉采用了靜態與動態兩種測試方式。并且通過單粒子功能中斷的測試,研究了基于重配置的單粒子效應減緩方法。試驗發現被測FPGA對單粒子翻轉與功能中斷都較為敏感,但是在注入粒子LET值達到42MeV.cm2/mg時仍然對單粒子鎖定免疫。本文對翻轉敏感度、測試方法與減緩技術進行了討論,試驗結果說明SRAM型FPGA對單粒子效應比較敏感,利用重配置技術的減緩方法能夠有效降低敏感度,實現空間應用。

SRAM型FPGA單粒子效應試驗研究.pdf