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可加快LTE/WiMAX設備開發的數字無線測試方案

作者: 時間:2012-08-02 來源:網絡 收藏

DigRF V4是移動基帶和射頻芯片之間的一種高速數字串行總線,也是的關鍵技術。隨著基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數字技術演變,DigRF標準對移動無線系統的開發、集成和驗證提出了哪些新的挑戰呢?為加快的開發,應該選擇什么樣的測試解決方案呢?本文針對這些問題給出答案。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/193459.htm

由移動行業處理器接口(MIPI)聯盟開發而成DigRF V4,是移動基帶和射頻芯片之間的一種高速數字串行總線,也是的關鍵技術。隨著基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數字技術演變,DigRF標準對移動無線系統的開發、集成和驗證提出了一些新的挑戰。

其中一個主要的挑戰是在測試時并非所有的組件都已經完成或者可用。例如,射頻芯片必須在沒有基帶芯片的情況下進行測試,而基帶芯片也必須在沒有射頻芯片的情況下進行測試。為重現系統問題或進行回歸測試,通常需要創建可能很難用真實重新的通信狀態。

數字I/Q數據和控制信息通過DigRF接口在基帶芯片和射頻芯片之間進行封包和傳輸。傳統上,工程師采用頻譜分析儀對基帶芯片和射頻芯片之間的模擬I/Q數據進行調制測量,但在DigRF數字串行接口上執行類似測量則需要新的工具。

為在開始手機集成之前驗證射頻芯片的工作狀態,射頻開發團隊需要能與傳統RF工具協同工作的DigRF數字串行信號源和分析工具。基帶芯片驗證團隊面臨也同樣的挑戰,因為DigRF數字串行信號源和分析工具必須替代信號源和頻譜分析儀來驗證基帶芯片的功能性。在手機集成階段,DigRF標準帶來的一個挑戰是必須找到可能存在數字域或射頻域中的互操作性問題的根源。

安捷倫(Agilent)的測試解決方案支持工程師在所選的域(數字域或射頻域)和抽象層(物理層或協議層)中進行測試,以快速表征射頻芯片 ,解決交叉域集成問題。Agilent數字無線測試解決方案將DigRF V4激勵和協議分析工具集成到了安捷倫最暢銷的數字、射頻和無線儀器中。Agilent RDX N5344A和N5345A DigRF測試解決方案提供協議調試功能,為射頻芯片、基帶芯片和集成團隊提供綜合的交叉域測試。交叉域測試可提供從單個數字比特到 IQ 調制射頻信號的全新分析能力。

Agilent E5345A 和 E5346A 有源探測解決方案具有超低電容負載(小于0.15pF)和高靈敏度,能夠在DigRF V4測試中以千兆位速度對系統進行深入分析,而且干擾最小。設計工程師可以選擇采用軟接觸技術的新型Agilent N5345A中間總線探頭來快速探測原型電路板,也可選擇B5346A飛線探測解決方案在空間有限的設計中輕松監測 DigRF V4鏈路。

測試軟件環境包括協議生成和分析功能,并能與Agilent Signal Studio軟件和89600矢量信分析軟件實現互通。該軟件支持DigRF試驗器和分析模塊,以及信號分析儀和信號源。通過使用這款熟悉的矢量信號生成和分析軟件,射頻工程師可以極大地節省測試時間。



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