無源RFID標簽芯片靈敏度測試方法研究 作者： 時間：2012-04-05 來源：網絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 圖4是芯片校準前實際功耗測試結果。其中，圓圈表示從標簽測試儀掃描圖像中對個別頻點采樣得到芯片靈敏度數值；實線為利用藍色圓圈表示的數值通過多項式擬合所得曲線。圖4所示曲線與圖3所示的曲線基本一致。 利用矢量網絡分析儀測試芯片的反射系數Γ，使用式(1)對測得的芯片靈敏度數據進行校準，得到圖5所示的芯片能量靈敏度曲線。其中，圓點為利用圖4中圓圈數值進行校準之后的靈敏度值，曲線為利用圓點表示的樣本值進行3次多項式擬合所得曲線，即校準之后的靈敏度曲線。 上一頁 1 2 3 4 下一頁
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