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Multitest:Quad Tech概念正是下一代垂直接觸技術

—— 卓越測試良品率和超長探針壽命
作者: 時間:2011-11-04 來源:半導體制造 收藏

  設計和制造最終測試分選機、測試座和負載板的廠商公司,日前宣布其Quad Tech概念正是下一代的。因其卓越測試良品率和超長探針壽命,從而具有顯著測試成本優勢。

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/125481.htm

  Quad Tech采用非套筒結構,擁有四個內部接觸點。該設計實現了出色電氣和機械性能。Quad Tech具有高電流功能、高帶寬和低電感等特點。從機械性能方面看,Quad Tech的長形變行程可適應更大的Z軸高度公差。

  Quad Tech的設計使可使用獨特且極為精確的生產工藝,該生產工藝亦能實現非凡鍍層質量。該工藝針對基于Quad Tech的所有測試座,可確保長探針壽命、長清洗周期和令人滿意的探針替換成本。

  目前,可供應基于Quad Tech技術的Mercury、Gemini和Gemini Kelvin測試座。

  Quad Tech由 Multitest測試座部門傾力推出。明尼蘇達州St. Paul中心潛心致力于研發接觸解決方案。



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