- 光電通信轉換器自動化測試系統按照光纖模塊產品對外接口規范設計測試系統，采用基于PXI平臺的模塊化產品和分立式測試儀器相結合的方式進行設計，提供了對光纖模塊產品的接口通信功能和性能指標的測試功能，可以完成不同產品的自動化測試。
- 關鍵字：
PXI平臺 模塊化 光纖模塊 自動化測試 201712
- NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學家應對全球最嚴峻的工程挑戰的平臺系統供應商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數字通道板卡和NI數字圖形向量編輯器。
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NI ATE PXI平臺
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴展其PXI平臺的功能，通過新發布的每個引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導體的特性描述和生產測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。
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NI PXI平臺
- 2011年8月——美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴展其PXI平臺的功能，通過新發布的每個引腳參數測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導體的特性描述和生產測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設備成本，縮短測試時間，并提升各種測試設備的混合信號靈活性。
使用NI PXIe-6556高速數字I /
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NI PXI平臺 PPMU SMU
- 2008年10月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）與BAE Systems公司、Phase Matrix公司于近日共同發布了一款針對軍事和商業射頻/微波應用的、基于PXI平臺的下一代26.5GHz綜合測試儀。這款綜合測試儀通過整合模塊化硬件與平臺軟件來創建用戶自定義的測試測量系統，它屬于虛擬儀器的一個分支。新款綜合測試儀是以5個兼容3U PXI Express的射頻/微波下變頻模塊為基礎而設計的，它擁有從100kHz到26.5GHz的
- 關鍵字：
PXI平臺 NI Phase Matrix 射頻綜合測試儀
- 摘要： 本文主要介紹如何利用NI的優勢技術，具體實現RFID測試系統的構建。關鍵詞： RFID測試；PXI平臺；板載FPGA
RFID測試需求及現狀作為無線通訊的新興領域之一，RFID技術在具有無線通訊技術所共有的特性之外，又有著其獨有的特殊性，其中最為重要的是標準的多樣化。國際上制定RFID標準的組織比較著名的有三個：ISO，美國的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center，目前已定義的RFID標準，包括工作頻率在低頻(120-134kHz)，高頻(13
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0701_A PXI平臺 RFID測試 板載FPGA 測量 測試 雜志_技術長廊 模塊
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