邊界掃描與電路板測試技術

• 摘 要： 本文論述了邊界掃描技術的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用邊界掃描技術進行設計時應注意的一些基本要點。關鍵詞： 邊界掃描測試；JTAG；電路板測試；可測試性設計引言電子器件的生產商和電子產品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術，如BGA、CSP(芯片規模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強的功能、更小的體積，并節省成本。電路板越來越密、器件越來越復雜、電路性能要求越來越苛刻，越來越難的接入問題導致了工業標準
• 關鍵字： JTAG  邊界掃描測試  電路板測試  可測試性設計  PCB  電路板