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軟誤差
軟誤差 文章 進(jìn)入軟誤差技術(shù)社區(qū)
淺析存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)的軟誤差率(SER)問(wèn)題
- 軟誤差率(SER)問(wèn)題是于上個(gè)世紀(jì)70年代后期作為一項(xiàng)存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)課題而受到人們的廣泛關(guān)注的，當(dāng)時(shí)DRAM開(kāi)始呈現(xiàn)出隨機(jī)故障的征兆。隨著工藝幾何尺寸的不斷縮小，引起失調(diào)所需的臨界電荷的減少速度要比存儲(chǔ)單元中的電荷聚
- 關(guān)鍵字： SER 存儲(chǔ)器數(shù)據(jù) 軟誤差
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軟誤差介紹
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