- 失效分析（Failure analysis）的作用是針對異常芯片（電性/可靠性測試異常）進行失效點定位，并結合芯片的原始設計情況判斷芯片失效的機理。失效分析需要全面的知識，比如電子、工藝、結構、材料、理化等很多方面都會涉及到。失效定位在不破壞樣品或者部分破壞樣品的情況下，定位出失效問題的物理位置。熱點定位的原理依據，激光作用于半導體材料時，會產生兩種效應，一種是熱效應（熱輻射），另一種是光生載流子效應（光子輻射)。（1）如果激光波長的能量小于半導體能帶，半導體僅僅發(fā)生熱效應；（2）當大于或接近半導體能帶時
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失效分析 芯片檢測
- OPPO解散哲庫的消息，震驚了很多人。一時間，各種說法甚至陰謀論都蜂擁而至。不過，對于手機廠商來說，從事芯片業(yè)務本身就是一項高風險操作，成本高昂，成功率比較低。縱覽全球，能夠自己設計核心芯片的手機廠商，也就是蘋果和華為獲得（或曾經獲得）了成功。很多人沒有意識到當年的華為（海思）做了一件多么了不起的事，手機芯片到底有多難？連在芯片代工方面可以和臺積電抗衡的三星，自家手機用的芯片也是高通。不過，好消息是，華為并沒有放棄，中國企業(yè)并沒有放棄，越來越多的企業(yè)在嘗試自主設計芯片。頂著巨大的壓力，華為雖然手機芯片領域
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手機芯片 芯片檢測
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