- 目前TFT模塊的生產過程中常伴有模塊的線缺陷和點缺陷,依據TFT模塊的驅動和測試原理,設計了一種由FPGA和模擬開關組成的集成測試信號源,該信號源可提供源極信號、柵極信號、柵極控制信號和公共地信號四路測試信號。
- 關鍵字：
TFTLCD 快檢信號源的設計 FPGA
快檢信號源的設計介紹
您好，目前還沒有人創建詞條快檢信號源的設計!
歡迎您創建該詞條，闡述對快檢信號源的設計的理解，并與今后在此搜索快檢信號源的設計的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
