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序列門控 掃描位移 時序閉合
- 如今，所有SOC都使用掃描結構來檢測設計中的任何制造缺陷。掃描鏈專為測試而設計，按串行形式連接芯片的時序元件。由于掃描元件之間缺少組合邏輯，因此這些掃描鏈容易出現保持故障。除了采用小于90納米的技術外，OCV
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