- 時間可控發射方法（TRE）是一種常用的非入侵式波形測量方法，它能從芯片的背面探測芯片內部節點的時序波形。完美 ...
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可控發射 模擬電路 失效分析
- 2.3 失效樹分析法 失效樹分析法是一種邏輯分析方法。邏輯分析法包括事件樹分析法(簡稱ETA)、管理失誤 ...
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可靠性 失效分析
- 失效分析在生產建設中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結論要正確無誤,改進措施要切實可行。 ...
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可靠性 失效分析
- 摘要：對一個復雜的設備進行故障診斷的時候，知識儲備是最重要的。我們想要的并且需要去了解相關的一些問題。它 ...
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IC故障 失效分析
- 你是否長時間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費大量精力在樣板調試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設 ...
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線路板 失效分析
- 摘要：由于銅絲鍵合可以替代金鍵合，價格又便宜，正在被越來越多地應用到微電子元器件當中。目前的情況表明銅是可行的替代品，但是證明其可靠性還需要采用針對銅絲鍵合工藝的新型失效分析(FA)技術。
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銅絲鍵合 MOSFET 金鍵合 失效分析 金屬層 201308
- 摘要：驅動電路的性能很大程度上影響整個系統的工作性能。驅動電路的設計中主要考慮功能和性能等方面的因素。本文首先介紹了某平臺的電機驅動電路，然后就實際工作及實驗中驅動電路出現的失效信息作以分析，對問題進
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驅動電路 失效分析 H橋 PWM
- 為了找到并糾正抗輻射晶體管3DK9DRH貯存失效的原因，利用外部檢查、電性能測試、檢漏、內部水汽檢測、開封檢查等試驗完成了對晶體管3DK9DRH的一種貯存失效分析。結果表明晶體管存在工藝問題，內部未進行水汽控制，加上內部硫元素過高，長期貯存后內部發生了氧化腐蝕反應，從而導致晶體管功能失效。對此建議廠家對晶體管的生產工藝進行檢查，對水汽和污染物如硫元素等加以控制，及時剔除有缺陷的晶體管。
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3DK9DRH 輻射 晶體管 失效分析
- 文中通過熱阻的測試原理分析和實際案例，分別從熱阻測試條件、控制限、上芯空洞、傾斜、芯片內阻等幾個方面，全面地闡述對熱阻測試結果的影響，并通過數據統計形成圖表，較為直觀明了，總結出熱阻測試失效的各種可能原因。
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熱阻測試 原理 失效分析
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