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半導體高速檢測裝置 文章 進入半導體高速檢測裝置技術社區

日本電產理德推出半導體高速檢測裝置“NATS-1000”

  • 日本電產理德株式會社推出了全自動在線半導體檢測裝置“NATS-1000”,用于汽車級IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor :絕緣柵雙極晶體管)/SiC(Silicon Carbide:碳化硅)模塊的功能測試。 1.  開發的背景及特征近年來,對車用功率器件(半導體元件)的需求迅速增長。日本電產理德的“NATS-1000”最初是在母公司日本電產株式會社(以下簡稱“日本電產”)的集團公司進行自制化,從重視可追溯性的汽車廠商的角度出發,為了優化成本、品
  • 關鍵字: 日本電產理德  半導體高速檢測裝置  
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半導體高速檢測裝置介紹

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