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半導體器件探測 文章 進入半導體器件探測技術社區

吉時利發布用于半導體器件探測和特征分析設備的混合信號互連解決方案

  •   先進電氣測試儀器與系統的世界級領導者吉時利儀器公司,日前發布測試界第一個利用一套線纜即可處理I-V、C-V和脈沖I-V信號的互連解決方案(正申請專利)。本款最新布線套件基于專利型設計,能大大加快并簡化從任意先進半導體參數分析儀到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探測器進行直流電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)和脈沖I-V測試互連的過程?;ミB線的設計與吉時利4200-SCS半導體特征分析系統以及其他一些用于特征分析的測試儀器兼容。   該高性能三同軸線纜套件的設計非
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半導體器件探測介紹

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