- 英國Pickering公司作為用于電子測試和驗證的模塊化信號切換和仿真解決方案的領先供應商，于近日推出新型低漏電流開關解決方案，面向半導體測試，如WAT晶圓驗收測試中的低電流驅動保護測量。新款產品基于開關隨動保護層(switched guard)設計原理，提供PXI, PXIe和LXI版本，整體設計確保隔離電阻高達1013Ω。該產品系列包括三個系列，提供各種開關拓撲結構。PXI模塊40-121系列提供兩種SPST通用開關配置(13或26個)或2:1(8或16組)多路復用開關。PXI模塊40-590系列和P
- 關鍵字：
Pickering 開關保護模塊 半導體參數測試 低漏電流測試
低漏電流測試介紹
您好，目前還沒有人創建詞條低漏電流測試!
歡迎您創建該詞條，闡述對低漏電流測試的理解，并與今后在此搜索低漏電流測試的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
