科利登設備用于高速串行總線測試
——
科利登負責全球運營及SPG部(SoC Production Group)高級副總裁Jean-Luc Pelissier說:“從產品的特征分析到最終的封裝測試,千兆級的信號完整性需求,低噪聲和皮秒級的抖動控制和高精度測試都超出了傳統ATE所能達到的性能范圍。D-3208能幫助客戶應對當今抖動測試的挑戰。事實上,它們已經實現了比競爭機型更高的測量精度和性能。”
D-3208數字測試設備依靠真正的差分通道提高測試過程中的信號完整性。它包含可編程的jitter injection來測量抖動容限,這是當今那些包含了高速串行總線的高性能SoC器件的一個關鍵測試參數。D-3208能提供嵌入時鐘和源同步時鐘兩種測試方法。它能提供全面的基于協議的功能測試來應對高速串行總線中的固有的非確定性測試。
D-3208與其它的Sapphire設備無縫地整合在一起,能為高速差分器件的測試通道提供高達3.2Gbps的測試解決方案,同時能使用傳統或者源同步的方式進行采樣。這些測試通道能在測試程序中進行配置,可以定義為16對1.6Gps的輸入或輸出通道或者2組8對3.2Gbps的輸入或輸出通道,進一步地提高了該設備的靈活性和性價比。
為了應對測試中碰到的一些極具挑戰的問題,D-3208還擁有on-the-fly時序計算和糾錯功能,它能糾正一階(時鐘偏斜),二階(線性和邊沿類型)和三階錯誤源(邊沿臨界和數據相關)到空前的0.6ps數字精度。它能提供極大的線性度和+/- 30ps的邊沿放置精度。這一不可匹敵的高性能進一步提升了Sapphire系統的優勢,幫助客戶提高特征分析的結果和生產的良率。
關于Sapphire
Sapphire是基于NPower?結構和XTOS?軟件的新一代ATE系統。與傳統的大型測試儀完全不同,Sapphire可提供極大靈活性的配置,并具有從DC到幾GHz的數字和模擬測試能力,支持結構測試和功能測試,完全封裝的儀器選件可以自由的放置在測試頭的任何一個插槽。由于設計時就充分考慮了簡單性和低成本,Sapphire最終能達到高集成,小體積和低功耗。它的高帶寬總線可以在各儀器之間進行復雜的通信和精確的同步,進而提高各種配置下的性能。Sapphire能夠輕易地滿足一個大的性能范圍的要求,既可用于高性能器件的特征分析到又可用做低成本的產品測試,從而滿足IDM,fabless設計公司以及測試服務承包商等的各種需要。
評論