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新型熱敏電阻特性曲線測定系統(08-100)

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作者:趙麗生 高軍 呂曉萌 盧禹錕 常凱 王書波 謝旻澍 山東大學物理學院 時間:2009-02-27 來源:電子產品世界 收藏

 

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/91868.htm

  圖7 18b20測溫程序流程圖

 

  圖8 電阻測量程序流程圖

  系統測試

  測試工具:標準

  測試方法:利用本系統測得標準材料的熱敏特性曲線。與標準的標準特性曲線進行比較。實驗表明,在一定溫度范圍內,半導體材料的電阻RT和絕對溫度T的關系可表示為,兩邊取自然對數、得到:ln RT=b/T+C。若以自變量1/t為橫坐標,ln RT為縱坐標,則上式圖象基本是一直線。得到特性圖示于圖9。 

  由圖9可看出,特性曲線基本為直線,由于任何熱敏電阻都不可能在大溫度范圍內保持線性性,在誤差允許范圍內,系統測試成功。

  結語

  由于系統架構設計合理,功能電路實現較好,系統性能優良、穩定,較好地達到了題目要求的各項指標:

  ·可滿足熱敏電阻特性曲線測試要求;

  ·可實現自動控制與處理,提高實驗精度;

  ·安全性能明顯提高。


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