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了解機電開關的工作壽命和可重復性及其對總體擁有成本的影響(08-100)

—— 了解機電開關的工作壽命和可重復性及其對總體擁有成本的影響
作者:Agilent Technologies 時間:2009-02-27 來源:電子產品世界 收藏

 

本文引用地址:http://www.j9360.com/article/91857.htm

  圖2 “閉合的”射頻線路

  由圖3可以看出,搭接片觸點通常較厚且不靈活。在“斷開”和“閉合”過程中,搭接片觸點和推桿進行垂直運動,在搭接片觸點和中心導體之間不會產生摩擦力,因此稱為“無摩擦開關切換”。

 

  圖3 傳統開關配合架構

  盡管這種設計能夠使機械驅動裝置的壽命達到幾千萬次,但仍有許多嚴重缺陷。搭接片觸點和中心導體之間的連續碰撞將會逐漸造成越來越大的磨損,并產生一些碎屑。這些碎屑以及長期積累的灰塵和污染物會一起留在端頭上。結果,隨著時間的延長,接觸電阻將會增加,從而使得插入損耗增加。這不一定會導致開關達不到其射頻技術指標,但隨著時間的增加,將會對插入損耗可重復性產生巨大影響。在開關的整個壽命期內,這些微粒會在中心導體的表面上不斷堆積,其隨機性意味著這種故障可能時斷時續,無法被檢測出來。導致這種不利結果的罪魁禍首正是沒有彈性的搭接片觸點設計。因此,具有這種設計特性的開關達不到可重復性技術指標或者根本沒有可重復性是很常見的事情。

 

  圖4 微粒聚集現象



關鍵詞: Agilent ATS EM

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