放大器的測試指標可以分為兩類：線性指標測試和非線性指標測試。

線性指標的測試基于S 參數的測量，采用常規矢量網絡分析議來完成。

對于非線性指標的測試，傳統測試方案采用頻譜儀加信號源方法，但這種方案有很多缺點如無法實現同步掃頻、掃功率測試，不能進行相位測量如幅度相位轉化(AM/PM)測量。

RS ZVB采用創新的硬件結構，其輸出功率很高、功率掃描范圍寬，因而無需另外單獨使用前置放大器，一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強大的自動電平控制設計以及高選擇性、高靈敏性的接收機，因而可在較寬的動態范圍下進行放大器的諧波測試而無需使用外部濾波器。

　　端口匹配特性測量

　　端口匹配特性主要測試端口的S11與S22參數。如端口1的S11參數等于反射信號b1與入射信號a1之比：

　　S11參數也可稱為輸入反射因子G1。S11為復數，工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比(VSWR)來表達端口的匹配程度。S11與這兩個參數的關系如下：

　　以上兩個參數與S11的換算由ZVB自動完成，用戶只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗，[SWR]->駐波比，就可以顯示相應的測試曲線。ZVB提供軌跡統計功能[Trace Statistics]，可自動顯示軌跡的最大值、最小值和峰-峰值，并且可以通過設置 [Eval Range]，來調整統計頻率范圍。該功能對帶限器件(如濾波器)的帶內指標測試非常有用。

　　在電路設計的過程中，精確輸入阻抗信息對于設計人員更為重要。比如：在手機板設計中，設計人員要精確測試前端放大器的輸入、輸出阻抗，然后根據輸入、輸出阻抗信息來設計對應的匹配網絡，達到手機的最大功率發射和最佳的整機靈敏度。輸入阻抗與S11的關系如下：

　　用戶通過選擇[Format] 鍵中的[Smith]菜單來顯示阻抗測試軌跡，通過設置Marker可以方便的測得每一頻點對應的輸入電抗和電阻。另外ZVB標配的虛擬加嵌功能，能模擬在輸入、輸出端口加上虛擬的匹配網絡之后，整個網絡的性能。該功能大大簡化了設計人員的工作量，無需實際的電路調整，就能預測調整后的DUT性能。用戶通過選擇[Mode]菜單中的[Virtual Transform]來激活該功能。

　　傳輸參數測量

　　除了端口匹配特性的測量，放大器前向放大和反向隔離特性也可分別由測試S21和S12得到。前向的傳輸參數S21等于在端口2測得前向功率b2與端口1的激勵功率a1的比值：

　　而放大器的反向隔離度等于S12絕對幅度的對數值：