EVM測量

在EVM測試中，使用NI PXIe-5673矢量信號發生器生成一個LTE信號。兩個儀器均使用如下設置：

·RBW = 30 kHz
10 dB 衰減
10 次平均
關閉自動峰值檢測

圖 10. 使用Agilent PXA 和 NI PXIe-5665進行LTE EVM 測試。

使用可編程的FPGA進行在線處理

圖 11. 將信號處理移至FPGA上進行可以節省時間。

NI FlexRIO非常靈活，可以作為一個協處理器。在這一演示的設置中，所有來自PXIe-5665的數據都是在FPGA上進行處理；而在之前的演示設置中，數據是在嵌入式處理器中進行處理。這一特性的應用非常廣泛，例如硬件處理的算法、協議實現以及實時激勵-響應等應用。

測試時間比較（包含設置時間）

前面所有的測試演示都只針對單次測量的時間。而在本項測試中，除了測量時間以外，還將考慮設置時間。這在包含多種測試標準的自動化測試（例如功率放大器測試）之中很有必要。

圖 12. 若考慮設置時間，NI 5665的速度要快20倍。

總結

對于一個典型的測試設置來說，相對于使用Agilent PXA，NI PXIe-5665能夠提供相同或者更好的性能，而且在大多數測試中要快14-15倍。同時，NI PXIe-5665的成本要比傳統臺式儀器小得多。在下表中，對NI 5665以及相對應的Agilent PXA價格進行了比較。

在自動化測試系統中，PXI機箱和MXI控制器的花費通常被系統中的所有儀器均攤。例如，如果一個測試系統中包含兩個NI PXIe-5665矢量信號分析儀，并插在一個PXIe機箱中，則機箱和控制器的費用只會發生一次，因此總的投入要少于2 x $58,597。然而，如果一個測試系統中包含兩套PXA，則投入為2 x $87,745。

注意：對于自動化測試應用來說，Agilent PXA和NI PXIe-5665在PC和所選編程語言（如LabVIEW、CVI、Visual Studio等）方面的投入是相同的，因此也沒有將其納入到比較當中。